[发明专利]SiC肖特基二极管的制备方法及其结构在审
申请号: | 201711395441.6 | 申请日: | 2017-12-21 |
公开(公告)号: | CN108321212A | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 贾仁需;邵锦文;侯同晓;元磊;汤晓燕 | 申请(专利权)人: | 秦皇岛京河科学技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/16;H01L21/329 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 066004 河北省秦皇岛市经济*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明涉及一种SiC肖特基二极管的制备方法及其结构,该制备方法包括:选取SiC衬底层,在所述SiC衬底层上表面生长SiC外延层,在所述SiC外延层内形成P+区域,在所述SiC外延层上表面生长隔离介质层,刻蚀所述隔离介质层形成隔离窗口,并在所述隔离窗口中生长NiCr合金层形成肖特基接触,在所述隔离介质层和所述NiCr合金层上表面生长第一铜石墨烯层形成器件的阳极电极,在所述SiC衬底层下表面生长第一金属层形成欧姆接触,在所述第一金属层下表面生长第二金属层形成器件阴极电极,以完成所述SiC肖特基二极管的制备。本发明的利用NiCr材料与SiC之间接触调整势垒高度变化,进而减小肖特基势垒的高度,降低了SiC肖特基二极管的开启电压,达到减小漏电流和能耗、增大反向电压的效果。 | ||
搜索关键词: | 肖特基二极管 生长 制备 隔离介质层 上表面 外延层 第一金属层 隔离窗口 合金层 下表面 减小 第二金属层 肖特基接触 肖特基势垒 反向电压 高度变化 开启电压 欧姆接触 器件阴极 石墨烯层 阳极电极 漏电流 电极 刻蚀 势垒 能耗 | ||
【主权项】:
1.一种SiC肖特基二极管的制备方法,其特征在于,包括:选取SiC衬底层;在所述SiC衬底层上表面生长SiC外延层;在所述SiC外延层内形成P+区域;在所述SiC外延层上表面生长隔离介质层;刻蚀所述隔离介质层形成隔离窗口,并在所述隔离窗口中生长NiCr合金层形成肖特基接触;在所述隔离介质层和所述NiCr合金层上表面生长第一铜石墨烯层形成器件的阳极电极;在所述SiC衬底层下表面生长第一金属层形成欧姆接触;在所述第一金属层下表面生长第二金属层形成器件的阴极电极,以完成所述SiC肖特基二极管的制备。
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