[发明专利]半导体结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201710971308.4 申请日: 2017-10-18
公开(公告)号: CN109686753B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 林进富;邱崇益 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体结构及其制作方法。该半导体结构包含有一基底,该基底上定义有一存储器区以及一晶体管区,一绝缘层位于该基底上,一2D材料层,位于该绝缘层上,且同时位于该存储器区以及该晶体管区内,其中该晶体管区内的部分该2D材料层为一晶体管结构的一通道区,其中该晶体管结构位于该晶体管区内的该通道区上,以及一电阻式随机存取存储器(RRAM)位于该存储器区内,该RRAM包含一下电极层、一电阻转换层与一上电极层依序位于该2D材料层上并电连接于该通道区。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种半导体结构,包含有:基底,该基底上定义有存储器区以及晶体管区;绝缘层,位于该基底上;2D材料层,位于该绝缘层上,且同时位于该存储器区以及该晶体管区内,其中该晶体管区内的部分该2D材料层为一晶体管结构的一通道区,其中该晶体管结构位于该晶体管区内的该通道区上;以及电阻式随机存取存储器(RRAM),位于该存储器区内,该RRAM包含下电极层、电阻转换层与上电极层依序位于该存储器区内的部分该2D材料层上并电连接于该通道区。
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