[发明专利]半导体工艺设备、涂覆设备及其排出装置有效
申请号: | 201710964140.4 | 申请日: | 2017-10-17 |
公开(公告)号: | CN109671641B | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 林津民;王国华;李志洋;陈冠纶 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体工艺设备,包括材料供应源、加工腔室、载台、喷嘴、排出泵以及排出装置。载台位在加工腔室内,用以承载待加工物。喷嘴位在加工腔室内并且设置于待加工物的上方。此外,喷嘴连接材料供应源,用以提供材料到待加工物上。排出泵位在加工腔室外。排出装置设置于载台下方,幷且包括排出管、弯管以及盖板。排出管连接加工腔室底部并且延伸至加工腔室外。弯管位在加工腔室外,并且连接于排出管与排出泵之间,其中弯管的侧壁上具有清洁开口,用以暴露弯管内部。盖板可拆卸地设置于清洁开口。涂覆设备及其排出装置亦被提出。 | ||
搜索关键词: | 半导体 工艺设备 设备 及其 排出 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体工艺设备,其特征在于,包括:材料供应源;加工腔室;载台,位在所述加工腔室内,用以承载待加工物;喷嘴,位在所述加工腔室内并且设置在所述待加工物的上方,所述喷嘴连接所述材料供应源,用以提供材料到所述待加工物上;排出泵,位在所述加工腔室外;以及排出装置,设置在所述载台下方,所述排出装置包括:排出管,连接所述加工腔室底部并且延伸至所述加工腔室外;弯管,位在所述加工腔室外,并且连接在所述排出管与所述排出泵之间,其中所述弯管的侧壁上具有清洁开口,用以暴露所述弯管内部;以及盖板,可拆卸地设置在所述清洁开口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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