[发明专利]半导体封装有效
申请号: | 201710753630.X | 申请日: | 2017-08-29 |
公开(公告)号: | CN107799493B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 吴澄玮 | 申请(专利权)人: | 巴迪磊博公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488 |
代理公司: | 北京寰华知识产权代理有限公司 11408 | 代理人: | 林柳岑;王兴 |
地址: | 塞舌尔共和*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 揭示一种半导体器件。所述半导体器件包括重分布结构、处理器芯片和金属柱。所述重分布结构包含连接结构,所述连接结构包含导电单元、焊料凸块、第一绝缘层、第二绝缘层、第三绝缘层、多个第一通孔以及多个第二通孔。所述金属柱具有第一端和第二端。所述金属柱的第一端连接到所述重分布结构。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,其特征在于,包括:重分布结构,所述重分布结构包含连接结构,所述连接结构包含导电单元、焊料凸块、第一绝缘层、第二绝缘层、第三绝缘层、多个第一通孔以及多个第二通孔,所述导电单元具有凸缘,所述导电单元包含折边、倾斜侧壁以及底部,所述焊料凸块位于导电单元上,所述焊料凸块直接接触所述导电单元,所述第一绝缘层在折边下方,所述第二绝缘层在所述导电单元的底部下方,第二绝缘层具有第一通孔区,所述第三绝缘层在所述第二绝缘层之下,所述第三绝缘层具有第二通孔区,所述多个第一通孔位于所述第一通孔区之内,所述多个第一通孔不在所述导电单元的底部下方,所述多个第二通孔位于所述第二通孔区之内,所述第二通孔区在所述导电单元的垂直投影之内;处理器芯片,所述处理器芯片具有有源侧和背侧,所述有源侧朝向第一方向,所述处理器芯片的有源侧连接到所述重分布结构;以及金属柱,所述金属柱设置在所述处理器芯片旁,所述金属柱具有第一端和第二端,所述金属柱以所述第一端连接到所述重分布结构,所述第一端朝向所述第一方向。
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