[发明专利]晶圆级芯片封装结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201710270853.0 申请日: 2017-04-24
公开(公告)号: CN107068629B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 马书英;于大全 申请(专利权)人: 华天科技(昆山)电子有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 32212 昆山四方专利事务所 代理人: 盛建德;段新颖<国际申请>=<国际公布>
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种晶圆级芯片封装结构及其制作方法,实现了有效芯片的重组,通过将原始晶圆切割成单颗芯片,并对芯片进行检测,将检测良好的芯片直接与一具有围堰的基板进行重组,可构成8寸或12寸重组晶圆,接着再对其进行晶圆级封装,将芯片基底的功能层焊垫的电性通过金属互连结构引至基底背面,可避免对无效芯片进行封装,浪费时间、封装材料以及人力,既节约了成本又提高了产品的良率。此外,本发明中,在形成单颗芯片封装体之前,不需要在切割道位置蚀刻硅槽和预切割,简化了工艺步骤。
搜索关键词: 晶圆级 芯片 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种晶圆级芯片封装结构的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:/nA.提供一具有若干芯片的原始晶圆,将原始晶圆切割成单颗芯片,并挑拣出性能良好的芯片,所述芯片包括基底及其正面的功能层,所述功能层包括功能区和位于所述功能区周边的若干焊垫;/nB.提供一基板,所述基板上表面通过微影技术设置与若干所述芯片一一对应的围堰,将挑拣出的多颗芯片的功能层与基板上表面通过围堰键合,且相邻芯片之间具有间隙,形成重组晶圆;/nC.在重组晶圆的各相邻芯片之间设置填充层,所述填充层将相邻芯片之间的空隙填满,设置填充层的方式包括压膜、注塑;然后将芯片基底上的填充层除去。/n
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