[发明专利]一种高频吸收二极管芯片及其生产方法有效

专利信息
申请号: 201710028828.1 申请日: 2017-01-16
公开(公告)号: CN106711234B 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 王兴龙;李述洲;陈亮;张力;潘宜虎 申请(专利权)人: 重庆平伟实业股份有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 尹丽云
地址: 405200*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供一种高频吸收二极管芯片及其生产方法,该芯片包括衬底,衬底的上表面形成有外延层,外延层上设有基区窗口,基区窗口包括压点区以及位于压点区外围的分压区,外延层将压点区与分压区隔开,基区窗口上形成有第一离子扩散层,第一离子扩散层上设有发射区窗口,发射区窗口上形成有第二离子扩散层,压点区内的第一离子扩散层、第二离子扩散层的上表面设有钝化层,分压区内的第一离子扩散层上表面形成有氧化层,氧化层、钝化层均延伸至外延层的上表面。采用本发明的芯片特别适宜于RCD电路中尖峰吸收,同时,该工艺形成的芯片在125℃下的高温漏电流比传统扩散型二极管芯片小50%以上,缺陷率低,而且本工艺简单,易于实现批量化生产。
搜索关键词: 一种 高频 吸收 二极管 芯片 及其 生产 方法
【主权项】:
1.一种高频吸收二极管芯片,包括衬底(1),其特征在于,所述衬底(1)的上表面形成有外延层(2),所述外延层(2)上设有基区窗口(4b),所述基区窗口(4b)包括压点区(11)以及位于压点区(11)外围的分压区(12),所述外延层(2)将压点区(11)与分压区(12)隔开,所述基区窗口(4b)内形成有第一离子扩散层(6a),所述第一离子扩散层(6a)上设有发射区窗口(7b),所述发射区窗口(7b)内形成有第二离子扩散层(8a),所述压点区(11)内的第一离子扩散层(6a)、第二离子扩散层(8a)的上表面均设有钝化层(9),分压区(12)内的第一离子扩散层(6a)上表面形成有氧化层(3),所述氧化层(3)、钝化层(9)均延伸至外延层(2)的上表面,钝化层(9)将氧化层(3)与压点区(11)内的第一离子扩散层(6a)隔开,所述第一离子扩散层(6a)与所述第二离子扩散层(8a)的深度差为结深D,结深D的深度为3‑5μm。
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