[实用新型]半导体塑封残胶抑制结构有效

专利信息
申请号: 201620644459.X 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN205752145U 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 范永胜;周海洋;赵振中;王毅 申请(专利权)人: 扬州扬杰电子科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 225008 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 半导体塑封残胶抑制结构。涉及半导体封装技术领域,特别是涉及一种使用环氧树脂塑封过程中的残胶抑制技术。提供了一种结构简单,方便加工,防止残胶堆积的半导体塑封残胶抑制结构。所述引脚呈Z字形、具有上平板、斜板和下平板,所述上平板平行于下平板,所述上平板位于下平板的上方,所述下平板的内侧设有封板,所述封板位于上平板的正下方,所述下平板的底面、封板的底面与塑封体的底面位于同一平面。所述封板上设有若干通孔。所述封板与引脚一体成型。本实用新型提升了产品外观,保证客户端的良好焊接。
搜索关键词: 半导体 塑封 抑制 结构
【主权项】:
半导体塑封残胶抑制结构,包括引脚和塑封体;其特征在于,所述引脚呈Z字形、具有上平板、斜板和下平板,所述上平板平行于下平板,所述上平板位于下平板的上方,所述下平板的内侧设有封板,所述封板位于上平板的正下方,所述下平板的底面、封板的底面与塑封体的底面位于同一平面。
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