[发明专利]半导体元件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201611129233.7 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN108615732B 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 何建廷;冯立伟;王嫈乔;林裕杰 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含有一基底,该基底内定义有至少一存储器区域,其内包含有多个存储单元。该半导体元件还包含多个第一连接结构、多个第二连接结构、多个分别设置于该多个第二连接结构上的第一存储电极、以及多个分别设置于该多个第一连接结构上的虚设电极。该多个第一连接结构分别包含有一导电部分与一第一金属部分,该多个第二连接结构分别包含有该导电部分与一第二金属部分,该第一金属部分与该第二金属部分包含相同的材料,且该第一金属部分与该第二金属部分的高度不同。
搜索关键词: 连接结构 半导体元件 金属 导电 基底 存储器区域 存储单元 存储电极 虚设电极 制作
【主权项】:
1.一种半导体元件,包含有:基底,该基底内定义有至少一存储器区域,且该存储器区域内包含有多个存储单元;多个第一连接结构,设置于该存储器区域内的该基底上,该多个第一连接结构分别包含有一导电部分与一第一金属部分,且该导电部分夹设于该第一金属部分与该基底之间;多个第二连接结构,设置于该存储器区域内的该基底上,且与该多个存储单元电连接,该多个第二连接结构分别包含有该导电部分与一第二金属部分,该导电部分夹设于该第二金属部分与该基底之间,该第一金属部分与该第二金属部分包含相同的材料,且第一金属部分与该第二金属部分的高度不同;多个第一存储电极,分别设置于该多个第二连接结构上;以及多个虚设电极,分别设置于该多个第一连接结构上。
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