[发明专利]一种倒装芯片的倒装封装结构及倒装芯片有效

专利信息
申请号: 201510833936.7 申请日: 2015-11-25
公开(公告)号: CN105489568B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 孟真;刘谋;张兴成;唐璇;阎跃鹏 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/67
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 张瑾
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例公开了一种倒装芯片的倒装封装结构及倒装芯片,涉及芯片封装技术领域,解决了现有芯片温度测量方式不准确测量倒装芯片的裸片工作时的温度的缺陷。本发明的芯片倒装封装结构包括封装基板,以倒装方式焊接于所述封装基板上的裸片、封装外壳以及至少一个温度测量元件,其特征在于,所述至少一个温度测量元件设置在所述封装基板中的位于所述裸片下方的第一空间中,所述第一空间中除去所述至少一个温度测量元件所占用的空间以外的剩余空间填充有绝缘导热物质。
搜索关键词: 一种 倒装 芯片 封装 结构
【主权项】:
1.一种倒装芯片的倒装封装结构,包括封装基板、以倒装方式焊接于所述封装基板上的裸片、封装外壳以及至少一个温度测量元件,其特征在于,所述至少一个温度测量元件设置在所述封装基板中的位于所述裸片下方的第一空间中,所述第一空间中除去所述至少一个温度测量元件所占用的空间以外的剩余空间填充有绝缘导热物质;所述裸片包括基底绝缘层和晶体管有源层,所述晶体管有源层包括电路区域和焊盘区域,所述至少一个温度测量元件设置在所述封装基板中的位于所述晶体管有源层的电路区域下方的所述第一空间中,所述晶体管有源层的焊盘区域通过焊球与所述封装基板互连,以实现所述裸片与所述封装基板的互连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510833936.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top