[发明专利]一种测量铁矿粉与CaO同化反应性能的方法在审
| 申请号： | 201510829051.X | 申请日： | 2015-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN105372273A | 公开（公告）日： | 2016-03-02 |
| 发明（设计）人： | 吴铿;王梦;杜晓东;王崇茂;门正朝;黄德军;朱春恩 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;C22B1/16 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人： | 皋吉甫 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于高炉炼铁中的烧结技术领域，尤其涉及一种测量铁矿粉与CaO同化反应性能的方法，所述方法包括如下步骤：1）将铁矿粉及分析纯CaO试剂研磨成细粉状；2）将铁矿粉压制成圆柱形，将CaO压制成垫片状；3）将圆柱形铁矿粉置于CaO垫片上，并放入高温炉中记性焙烧，同时升温焙烧过程中进行摄像、记录时间和温度；4）利用XRD图谱确定同化反应开始时间，同化反应开始温度，同化反应结束时间，同化反应结束温度；利用同化时间和同化量确定同化反应速度；根据同化反应速度、平均同化温度及升温速率来计算同化反应特征数。本发明的工艺流程简单，工艺参数稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 铁矿 cao 同化 反应 性能 方法 | ||
【主权项】：
一种测量铁矿粉与CaO同化反应性能的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：1)将铁矿粉及分析纯CaO试剂研磨成细粉状；2)将铁矿粉压制成圆柱形，将CaO压制成垫片状；3)将圆柱形铁矿粉置于CaO垫片上，并放入高温炉中记性焙烧，同时升温焙烧过程中进行摄像、记录时间和温度；4)利用XRD图谱确定同化反应开始时间，同化反应开始温度，同化反应结束时间，同化反应结束温度；利用同化时间和同化量确定同化反应速度；根据同化反应速度、平均同化温度及升温速率来计算同化反应特征数。
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固定所述的衍射角2θ，改变所述的ψ和
分别记录所述的第一晶粒在001取向与011取向衍射最强峰时的ψ001、
和ψ011、
根据所述的ψ001、
和ψ011、
计算所述的第一晶粒的二次取向偏角。
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- 本发明公开了一种测定ZSM‑22分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法，包括如下步骤：步骤一，将ZSM‑22分子筛样品经过研磨、过筛，然后焙烧活化，氯化镁饱和溶液控温恒湿处理，所述温控范围为35℃～65℃，控温恒湿吸水时间为3h～7h，得到待测工业试样；步骤二，在相同的粉末X射线衍射仪工作条件下，将所述ZSM‑22分子筛待测试样与NIST LaB6、氧化铝或云母外标样分别压入相应的粉末X射线衍射仪样品架中，进行试样衍射峰角度的外标校正测定并收集粉末X射线衍射数据；步骤三，在用外标样校正衍射峰角度之后，根据正交晶系晶面间距公式，计算所述ZSM‑22分子筛待测试样的晶胞参数。本发明方法快速、高效、省时、省力、可行且研磨、过筛无静电干扰。
- 用于确定样本中的应变分布的方法和系统-201480049323.8
- 吉拉德·巴拉克;沙伊·沃尔弗林;科尔内尔·博兹多格;马修·森德尔巴克 - 诺威量测设备股份有限公司
- 2014-07-08 - 2019-07-05 - G01N23/207
- 呈现了用来测量样本的一个或多个参数的控制系统。该控制系统包括：输入模块以及处理器模块。该输入模块被配置为接收包括第一数据和第二数据的输入数据，该第一数据包括样本的X射线衍射或高分辨率X射线衍射(XRD)响应数据，该X射线衍射或高分辨率X射线衍射(XRD)响应数据指示样本中的材料分布，第二数据包括样本对入射光的光学响应数据，该光学响应数据至少指示样本的几何形状。该处理器模块被配置为且可操作为处理和分析第一数据和第二数据中的一个用于优化第一数据和第二数据中的另一个，并且利用优化数据来确定样本的所述一个或多个参数，所述一个或多个参数包括样本中的应变分布。
- 一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法-201710142539.4
- 陈凯;寇嘉伟;朱文欣 - 西安交通大学
- 2017-03-10 - 2019-06-28 - G01N23/207
- 本发明公开了一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法，包括以下步骤：步骤一：运用公知的方法对实验所得所有扫描式劳厄衍射图谱进行寻峰操作，得到衍射峰的位置和积分强度；步骤二：判断扫描式劳厄衍射实验区域内两点是否为同一晶粒；步骤三：重检晶界；步骤四：从两种遍历方法中选择一种遍历方法，对实验区域内所有点进行遍历，完成对实验区域内所有点对应扫描式劳厄衍射图谱的峰的标定，并得到实验区域内的晶/相界分布；本发明方法与当前的其他对扫描式劳厄衍射扫描式劳厄衍射图谱的分析方法相比，具有计算量小，耗时短的特点。
- 一种中子衍射实验数据分析系统-201910235225.8
- 杨飞 - 中南大学
- 2019-03-27 - 2019-06-21 - G01N23/207
- 本发明公开了一种中子衍射实验数据分析系统，包括数据格式、内存数据结构、数据分析算法、数据输出四部分。该系统使用了一种基于JSON的文件格式，能够快速方便地存储和交换中子衍射地实验数据，并为此设计了一种高效的数据结构能够在计算机中对数据进行分析和处理。为了从中子实验数据中提取有效的实验信息，该系统采用了全新的基于L‑M的中子衍射实验数据处理算法，在L‑M算法前增设针对中子衍射实验数据进行专门优化的前处理器使得算法的结果准确性和算法收敛速度大幅提升。
- 一种软X射线光谱测量装置-201910209499.X
- 肖君;杨洋 - 复旦大学
- 2019-03-19 - 2019-06-18 - G01N23/207
- 本发明属于物理生物实验技术领域，具体为一种软X射线光谱测量装置。本发明装置包括：X射线相机、真空步进电机、真空滑轨、X射线分光晶体、遮光室、狭缝、升降旋转台，真空旋转台、真空升降台等；其中，X射线相机、半圆弧真空滑轨、真空旋转台等基本部件均放置于所述遮光室内；狭缝设置在遮光室一侧，用于限制入射光线大小；X射线相机、X射线分光晶体的中心、狭缝在同一水平面上，保证X射线相机出射的X射线，经过分光晶体反射，穿过狭缝出射。其中，除了电机、探测器配套的控制电源部分，所有的部件均放置于真空腔室内。本装置为具有特定自带真空测试腔室软X射线源的实验室开展的物理和生物研究提供高分辨X射线光谱测量服务。
- 一种新型无接触无损测量材料硬度的方法-201610597118.6
- 付鹏;徐志军;初瑞清;李伟;黄宝绪;王长征 - 聊城大学
- 2016-07-27 - 2019-06-11 - G01N23/207
- 本发明涉及一种新型无接触无损测试材料硬度的方法，该技术要点是，以强度为0.50+0.30+0.15mmA喷丸处理后的GCr15钢为研究对象，其表面具有较大的残余压应力和细化的组织结构，在高温退火时组织结构也会回复，实际可通过FWHM变化来间接表达组织结构的变化，同时残余压应力也会减小，并引起表面硬度的降低。通过不同温度下FWHM和残余应力随退火时间的变化趋势，建立不同退火温度下材料表面硬度与FWHM及残余应力的关系式。在对相同材料的硬度测试时，只需通过XRD技术测量对应的FWHM和残余应力大小，结合得到的关系式，即可计算得到硬度值。此方法为XRD测试技术的延伸，测试中不与试样接触，属于完全无损测试，不但便捷而且更有效。可以广泛应用于金属材料硬度的测量。
- X射线衍射装置和X射线衍射测定方法-201480052656.6
- 小林信太郎;光永徹;梶芳功系兆;新井和良 - 株式会社理学
- 2014-01-27 - 2019-06-04 - G01N23/207
- 不使用后级受光狭缝就能够变更测定分辨率，并且对于在使用后级受光狭缝的情况下无法实现的测定分辨率的变更也能够灵活地应对。本发明的X射线衍射装置对试样台(7)上的试样(S)照射由X射线源产生的X射线，利用检测器(15)来检测在该试样(S)处衍射后的X射线，具备虚拟掩模设定部(26)和信号处理部(21)。检测器(15)按形成检测面(17)的多个检测元件(16)的每个检测元件(16)，输出与由检测元件(16)接收到的X射线的强度相应的检测信号。虚拟掩模设定部(26)对检测器(15)的检测面(17)设定虚拟掩模(31)，并且至少能够设定虚拟掩模的开口尺寸来作为虚拟掩模(31)的开口条件，其中，该虚拟掩模的开口尺寸是在X方向和Y方向上独立地设定的。信号处理部(21)根据由虚拟掩模设定部(26)设定的虚拟掩模的开口条件对从检测器(15)输出的检测信号进行处理。
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