[发明专利]测量容器、测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 201880089445.8 | 申请日： | 2018-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN111727370A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 井上胜;大薮范昭 | 申请（专利权）人： | 东阳特克尼卡株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 金兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于液体的杂质离子测量的测量装置(1)具备：第1电极(4)；第1绝缘膜(6)，被形成在第1电极(4)上；第2绝缘膜(7)，与第1绝缘膜(6)隔开配置，以形成液体(9)被封入的空间；第2电极(5)，被形成有第2绝缘膜(7)，并被配置为面向第1电极(4)；以及密封件(8)，具有用于将液体(9)注入到空间中的注入口，被构成为密封空间。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 容器 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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