[发明专利]晶片封装体及其制造方法有效
申请号: | 201510168772.0 | 申请日: | 2015-04-10 |
公开(公告)号: | CN105097790B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 温英男;刘建宏 | 申请(专利权)人: | 精材科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/00 | 分类号: | H01L25/00;H01L23/498;H01L21/50;B81B7/02;B81C3/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 中国台湾桃园市中*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭露一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包括:一第一装置基底,贴附于一第二装置基底的一第一表面上;一第三装置基底,贴附于第二装置基底相对于第一表面的一第二表面上;一绝缘层,覆盖第一装置基底、第二装置基底及第三装置基底,其中绝缘层内具有至少一开口;至少一凸块,设置于开口的底部下方;以及一重布线层,设置于绝缘层上,且经由开口电性连接至凸块。本发明可将多个不同尺寸的装置基底/晶片彼此垂直堆叠而将其整合于同一晶片封装体内,使得单一晶片封装体具有多种集成电路功能,因此可缩小后续接合的电路板的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 晶片 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶片封装体,其特征在于,包括:一第一装置基底,贴附于一第二装置基底的一第一表面上;一第三装置基底,贴附于该第二装置基底相对于该第一表面的一第二表面上;一绝缘层,覆盖该第一装置基底、该第二装置基底及该第三装置基底,其中该绝缘层内具有至少一开口;至少一第一凸块,设置于该至少一开口的底部下方;一重布线层,设置于该绝缘层上,且经由该至少一开口电性连接至该至少一第一凸块;以及一第二凸块,该第二凸块设置于该绝缘层上的该重布线层上,其中该第三装置基底通过该第一装置基底及/或该第二装置基底电性连接至该第二凸块。
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