[发明专利]肖特基势垒二极管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410822182.0 申请日: 2014-12-25
公开(公告)号: CN104576762B 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 李诚瞻;刘可安;吴煜东;杨勇雄;史晶晶;蒋华平;唐龙谷;赵艳黎;吴佳 申请(专利权)人: 株洲南车时代电气股份有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 朱绘;张文娟
地址: 412001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种肖特基势垒二极管及其制造方法,属于半导体技术领域,解决了现有的肖特基势垒二极管的开启电压较高的技术问题。该肖特基势垒二极管,包括:N型碳化硅衬底;位于所述N型碳化硅衬底上的低掺杂N型外延层;位于所述低掺杂N型外延层上的高掺杂N型外延层;位于所述低掺杂N型外延层和所述高掺杂N型外延层中的P型高掺杂区;位于所述高掺杂N型外延层上的肖特基接触电极;位于所述N型碳化硅衬底下方的欧姆接触电极。本发明提供的肖特基势垒二极管能够更好的应用于高频电路。
搜索关键词: 肖特基势垒二极管 低掺杂 高掺杂 衬底 半导体技术领域 欧姆接触电极 肖特基接触 高掺杂区 高频电路 开启电压 电极 制造 应用
【主权项】:
1.一种肖特基势垒二极管,包括:N型碳化硅衬底;位于所述N型碳化硅衬底上的低掺杂N型外延层;位于所述低掺杂N型外延层上的高掺杂N型外延层;位于所述低掺杂N型外延层和所述高掺杂N型外延层中的P型高掺杂区;位于所述高掺杂N型外延层上的肖特基接触电极;位于所述N型碳化硅衬底下方的欧姆接触电极;其中,所述高掺杂N型外延层的掺杂浓度比所述低掺杂N型外延层的掺杂浓度高一个数量级以上,高掺杂N型外延层的掺杂浓度为1016原子/cm3量级至1017原子/cm3量级,所述高掺杂N型外延层的厚度设置为10纳米以下,小于电子平均自由程,所述P型高掺杂区的掺杂浓度为1018原子/cm3量级至1019原子/cm3量级。
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