[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201410323364.3 申请日: 2014-07-08
公开(公告)号: CN104282651A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 山本靖和;宫胁胜巳 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/498;H01L23/373
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明得到一种能够提高产品的品质以及生产率的半导体装置。在基板(1)上相邻地设置有焊盘(2、3)。导电带(6)粘贴至焊盘(2、3)。导电带(6)在焊盘(2)的内侧具有通孔(7)。导电粘结剂(8)涂敷在通孔(7)内。导电粘结剂(8)具有比导电带(6)高的热传导率。半导体芯片(9)通过导电粘结剂(8)安装在焊盘(2)上。电子部件(10)通过导电带(6)安装在焊盘(3)上。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具有:基板;第1以及第2焊盘,它们相邻地设置在基板上;导电带,其粘贴至所述第1以及第2焊盘,在所述第1焊盘的内侧具有通孔;导电粘结剂,其涂敷在所述通孔内,具有比所述导电带高的热传导率;半导体芯片,其通过所述导电粘结剂安装在所述第1焊盘上;以及电子部件,其通过所述导电带安装在所述第2焊盘上。
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