[发明专利]双向异质结化合物半导体保护装置及其形成方法有效
申请号: | 201310436970.1 | 申请日: | 2013-09-24 |
公开(公告)号: | CN103681658B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | J·A·塞尔瑟多;S·帕萨萨拉希;张书云 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L29/778;H01L21/82;H01L21/335 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 冯玉清 |
地址: | 美国马萨*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及双向异质结化合物半导体保护装置及其形成方法。包括多栅高电子迁移率晶体管(HEMT)、正向传导控制块和反向传导控制块的保护电路被布置在第一终端和第二终端之间。多栅HEMT包括明确的漏极/源极、第一耗尽模式(D‑模式)栅极、第一增强模式(E‑模式)栅极、第二E‑模式栅极、第二D‑模式栅极以及明确的源极/漏极。漏极/源极和第一D‑模式栅极被连接至第一终端和源极/漏极,第二D‑模式栅极被连接至第二终端。正向传导控制块在第一和第二终端之间的电压差大于正向传导触发电压时使得第二E‑模式栅极导通,反向传导控制块在电压差比反向传导触发电压更负时使得第一E‑模式栅极导通。 | ||
搜索关键词: | 双向 异质结 化合物 半导体 保护装置 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种化合物半导体双向保护装置,包括:多栅高电子迁移率晶体管,包括漏极/源极、源极/漏极、第一耗尽模式栅极、第二耗尽模式栅极、第一增强模式栅极以及第二增强模式栅极,其中第一增强模式栅极布置在第一和第二耗尽模式栅极之间,其中第二增强模式栅极布置在第一增强模式栅极和第二耗尽模式栅极之间,其中漏极/源极和第一耗尽模式栅极电连接至第一终端,而且其中源极/漏极和第二耗尽模式栅极电连接至第二终端;电连接在第一终端和第二终端之间的配置成控制第二增强模式栅极的栅极电压的正向传导控制块,其中正向传导控制块被配置成,在第一和第二终端之间的电压差大于正向传导触发电压时使得第二增强模式栅极导通、并且反之根据第二终端的电压来对第二增强模式栅极进行偏置;以及电连接在第一终端和第二终端之间的配置成控制第一增强模式栅极的栅极电压的反向传导控制块,其中反向传导控制块被配置成,在所述电压差小于反向传导触发电压时使得第一增强模式栅极导通、并且反之根据第一终端的电压来对第一增强模式栅极进行偏置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的