[发明专利]制作III族氮化物半导体和半导体元件的方法、III族氮化物半导体装置、进行热处理的方法在审
申请号: | 201310369936.7 | 申请日: | 2013-08-22 |
公开(公告)号: | CN103632958A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 桥本信;中村孝夫;天野浩 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324;H01L21/265;H01L21/223 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 杨海荣;穆德骏 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 发明提供制作III族氮化物半导体和半导体元件的方法、III族氮化物半导体装置、进行热处理的方法。在工序S107中,进行III族氮化物半导体23的热处理,形成导电性III族氮化物半导体25。热处理包含第一热处理27a和第二热处理27b。在工序S108中,供给包含第一流量L1的还原性气体和第二流量L2的氮源气体的处理气体G1,且在第一热处理中第一流量L1大于零。第二流量L2为零以上。在工序S109中,进行第一热处理27a后,进行第二热处理27b。在第二热处理27b中,供给包含第三流量L3的还原性气体和第四流量L4的氮源气体的处理气体G2,进行III族氮化物半导体23的热处理。 | ||
搜索关键词: | 制作 iii 氮化物 半导体 元件 方法 装置 进行 热处理 | ||
【主权项】:
一种制作III族氮化物半导体的方法,其具有:准备包含p型掺杂剂和n型掺杂剂中的至少一种掺杂剂的III族氮化物半导体的工序;和使用还原性气体和氮源气体进行所述III族氮化物半导体的处理,形成导电性III族氮化物半导体的工序,所述处理包括:将包含第一流量的还原性气体和第二流量的氮源气体的第一处理气体供给至处理装置的同时,进行所述III族氮化物半导体的第一热处理的工序;和在进行所述第一热处理后,将包含第三流量的还原性气体和第四流量的氮源气体的第二处理气体供给至所述处理装置,进行所述III族氮化物半导体的第二热处理的工序,在所述第一热处理中,所述第一流量大于零,所述第二流量为零以上,在所述第二热处理中,所述第四流量大于零,所述第三流量为零以上,所述第二流量小于所述第四流量。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造