[发明专利]半导体装置及其制作方法有效
申请号: | 201310252818.8 | 申请日: | 2013-06-24 |
公开(公告)号: | CN104241360B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 洪裕祥;傅思逸;张仲甫;陈正国;林建廷 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体装置及其制作方法。半导体装置包括鳍状突起结构、绝缘结构、栅极结构、以及外延结构。鳍状突起结构延伸出基板的表面且具有一顶面以及二侧面。绝缘结构环绕鳍状突起结构。栅极结构包覆部分鳍状突起结构的顶面以及二侧面,以及覆盖部分绝缘结构。其中位于栅极结构下方的绝缘结构具有一第一顶面,位于栅极结构两侧的绝缘结构具有一第二顶面,且第一顶面高于第二顶面。外延结构设置于栅极结构的一侧且直接接触鳍状突起结构。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:鳍状突起结构,延伸出于一基板的一表面,其中该鳍状突起结构具有一顶面以及二侧面;绝缘结构,环绕该鳍状突起结构;栅极结构,包覆部分该鳍状突起结构的该顶面以及该些侧面,以及覆盖部分该绝缘结构,其中位于该栅极结构下方的该绝缘结构具有一第一顶面,位于该栅极结构两侧的该绝缘结构具有一第二顶面,且该第一顶面高于该第二顶面;以及外延结构,设置于该栅极结构的一侧,且直接接触该鳍状突起结构,所述半导体装置另包括一凹槽,形成于该鳍状突起结构的一端,其中该外延结构会填满该凹槽,其中该外延结构的底面浅于该绝缘结构的底面,绝缘结构的第一顶面与第二顶面之间为第一深度,该外延结构的底面具有一第二深度,且该第二深度深于该第一深度。
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