[发明专利]半导体装置及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201310252818.8 申请日: 2013-06-24
公开(公告)号: CN104241360B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 洪裕祥;傅思逸;张仲甫;陈正国;林建廷 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种半导体装置及其制作方法。半导体装置包括鳍状突起结构、绝缘结构、栅极结构、以及外延结构。鳍状突起结构延伸出基板的表面且具有一顶面以及二侧面。绝缘结构环绕鳍状突起结构。栅极结构包覆部分鳍状突起结构的顶面以及二侧面,以及覆盖部分绝缘结构。其中位于栅极结构下方的绝缘结构具有一第一顶面,位于栅极结构两侧的绝缘结构具有一第二顶面,且第一顶面高于第二顶面。外延结构设置于栅极结构的一侧且直接接触鳍状突起结构。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:鳍状突起结构,延伸出于一基板的一表面,其中该鳍状突起结构具有一顶面以及二侧面;绝缘结构,环绕该鳍状突起结构;栅极结构,包覆部分该鳍状突起结构的该顶面以及该些侧面,以及覆盖部分该绝缘结构,其中位于该栅极结构下方的该绝缘结构具有一第一顶面,位于该栅极结构两侧的该绝缘结构具有一第二顶面,且该第一顶面高于该第二顶面;以及外延结构,设置于该栅极结构的一侧,且直接接触该鳍状突起结构,所述半导体装置另包括一凹槽,形成于该鳍状突起结构的一端,其中该外延结构会填满该凹槽,其中该外延结构的底面浅于该绝缘结构的底面,绝缘结构的第一顶面与第二顶面之间为第一深度,该外延结构的底面具有一第二深度,且该第二深度深于该第一深度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310252818.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top