[发明专利]半导体存储卡有效

专利信息
申请号: 201210316660.1 申请日: 2012-08-30
公开(公告)号: CN103295987A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 稻垣洋;川村英树;冈田隆;西山拓 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;G06K19/077
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 陈海红;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种能够缩短从外部连接端子到控制器芯片为止的布线长度的半导体存储卡。实施方式的半导体存储卡具备SiP结构的半导体存储装置(11),该半导体存储装置(11)具备:在布线基板(12)上配置的存储器芯片(24);在存储器芯片(24)上层叠的控制器芯片(29);和密封树脂层。与外部连接端子电连接的控制器芯片(29)的电极焊盘(301),以位于布线基板12的第2面12b上的端子对应区域X1内的方式,沿着与外部连接端子的排列方向平行且位于排列有外部连接端子的布线基板12的第1外形边S1侧的控制器芯片29的外形边排列。
搜索关键词: 半导体 存储
【主权项】:
一种半导体存储卡,具备半导体存储装置,所述半导体存储装置具有:布线基板,其具有:具备多个外部连接端子与第1布线层的第1面;具备芯片搭载区域与第2布线层的第2面;和将所述第1布线层与所述第2布线层电连接的通孔;存储器芯片,其配置在所述布线基板的所述芯片搭载区域上,具有至少沿1条外形边排列的第1电极焊盘;控制器芯片,其层叠在所述存储器芯片上,具有至少沿1条外形边排列的第2电极焊盘;第1金属线,其将所述存储器芯片的所述第1电极焊盘与所述布线基板的所述第2布线层电连接;第2金属线,其将所述控制器芯片的所述第2电极焊盘与所述布线基板的所述第2布线层电连接;和密封树脂层,其以将所述存储器芯片以及所述控制器芯片与所述第1以及第2金属线共同密封的方式,形成在所述布线基板的所述第2面上,所述半导体存储卡的特征在于,所述多个外部连接端子,以位于所述布线基板的第1外形边附近的方式沿着所述第1外形边排列,且所述控制器芯片的所述第2电极焊盘中的与所述外部连接端子电连接的电极焊盘,以位于与所述布线基板的所述第1面中的所述多个外部连接端子的形成区域相对应的所述第2面上的区域内或所述区域附近的方式,沿着与所述多个外部连接端子的排列方向平行且位于所述布线基板的所述第1外形边侧的所述控制器芯片的外形边排列,所述布线基板的所述第2面上的所述端子对应区域具有没有设置所述第2布线层的区域,且在没有设置所述第2布线层的区域,构成所述第2布线层的金属层以不与所述第2布线层电连接的状态局部设置,所述通孔的至少一部分,在所述多个外部连接端子间设置,且所述多个外部连接端子的至少一部分,经由在所述多个外部连接端子间设置的所述通孔与所述控制器芯片的所述第2电极焊盘电连接,所述多个外部连接端子分别具有电镀层作为表面层,且所述布线基板的所述第2布线层具有形成所述电镀层的电镀导线,所述电镀导线的至少一部分经由在所述多个外部连接端子间设置的所述通孔与所述外部连接端子电连接。
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