[发明专利]半导体结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210137860.0 申请日: 2012-05-04
公开(公告)号: CN103383963A 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 李秋德;林克峰;林淑雯;游焜煌;王智充;吴德源 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种半导体结构及其制造方法,半导体结构包括第一导电型的一基板;第二导电型的一深阱,形成于基板内并由基板表面向下扩展;第一导电型的一第一阱,由基板表面向下扩展并形成于深阱内;第二导电型的一第二阱,于深阱内由基板表面向下扩展并与第一阱相隔一距离;一栅极,形成于基板上并位于第一阱和第二阱之间;一绝缘物,由基板表面向下扩展并形成于栅极与第二阱间;一导电插塞(conductive plug),包括电连接的第一部分和第二部分,其中第一部分与栅极电连接,第二部分延伸于绝缘物里。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体结构,包括:第一导电型的基板;第二导电型的深阱,形成于该基板内并由该基板的表面向下扩展;第一阱为该第一导电型,由该基板的表面向下扩展并形成于该深阱内;第二阱为该第二导电型,在该深阱内由该基板的表面向下扩展并与该第一阱相隔一距离;栅极,形成于该基板上并位于该第一阱和该第二阱之间;绝缘物(isolation block),由该基板的表面向下扩展并形成于该栅极与该第二阱间;导电插塞(conductive plug),包括:第一部分,与该栅极电连接;和第二部分,与该第一部分电连接并延伸于该绝缘物里。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210137860.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top