[发明专利]一种基于图形化的SOI-ESD保护器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110124793.4 申请日: 2011-05-16
公开(公告)号: CN102201405A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 程新红;夏超;王中健;俞跃辉;何大伟;徐大伟 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/12;H01L29/06;H01L21/84;H01L21/762
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于图形化的SOIESD保护器件及其制作方法。该ESD器件结构包括:底层衬底;位于所述底层衬底上的绝缘埋层;位于所述绝缘埋层上的有源区;以及穿过所述绝缘埋层连接所述有源区与底层衬底的导通栓;其中,所述有源区包括P阱区和N阱区,所述P阱区和N阱区之间形成横向的PN结;所述导通栓位于所述PN结下方;在所述PN结之上设有场氧区;在所述P阱区之上设有阴极接触端;在所述N阱区之上设有阳极接触端。本器件在埋氧层上开了一个窗口,此窗口一方面可以很好的释放ESD大电流产生的热量,另一方面可以很好的改善器件的抗ESD能力。能够在HBM(人体模型)中实现抗ESD电压达到2kV以上,达到了目前人体模型的工业标准。
搜索关键词: 一种 基于 图形 soi esd 保护 器件 及其 制作方法
【主权项】:
一种基于图形化的SOI ESD保护器件,其特征在于,包括:底层衬底;位于所述底层衬底上的绝缘埋层;位于所述绝缘埋层上的有源区;以及穿过所述绝缘埋层连接所述有源区与底层衬底的导通栓;其中,所述有源区包括P阱区和N阱区,所述P阱区和N阱区之间形成横向的PN结;所述导通栓位于所述PN结下方;在所述PN结之上设有场氧区;在所述P阱区之上设有阴极接触端;在所述N阱区之上设有阳极接触端。
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