[发明专利]RF半导体器件及其制造方法无效
申请号: | 201110005743.4 | 申请日: | 2011-01-07 |
公开(公告)号: | CN102157514A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 金基仲;金镇硕;金广植;金胤锡;姜英植;朴泰俊 | 申请(专利权)人: | 三星电机株式会社 |
主分类号: | H01L27/01 | 分类号: | H01L27/01;H01L23/525;H01L21/70;H01L21/768 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 刘光明;穆德骏 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种RF半导体器件及其制造方法。该射频(RF)半导体器件包括:半导体衬底;电阻器膜,其形成在所述半导体衬底的一个区域处;第一金属层,其形成在所述半导体衬底上;电介质层,其至少形成在所述下电极膜上;第二金属层,其形成在所述电介质层上;第一绝缘层,其具有与所述第一金属层相连接的第一焊盘通孔、与所述第二金属层相连接的电容器通孔以及与所述第一或第二金属层相连接的电感器通孔。第三金属层包括分别填充所述电容器通孔和所述电感器通孔的填充部分以及第二电路线。第二绝缘层形成在所述第一绝缘层上,以具有与所述第一焊盘通孔相连接的第二焊盘通孔。在所述第一和第二焊盘通孔处形成接合焊盘。 | ||
搜索关键词: | rf 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种射频(RF)半导体器件,包括:半导体衬底;电阻器膜,所述电阻器膜被形成在所述半导体衬底的一个区域上,并且被提供为电阻器元件;第一金属层,所述第一金属层被形成在所述半导体衬底上,并且被提供为用于与所述电阻器膜相连接的第一电路线且用于电容器的下电极膜;电介质层,所述电介质层被至少形成在所述下电极膜上;第二金属层,所述第二金属层被形成在所述电介质层上,并且被提供为用于与所述第一金属层相连接的部分且用于所述电容器的上电极膜;第一绝缘层,所述第一绝缘层具有与所述第一金属层相连接的第一焊盘通孔、与所述第二金属层相连接的电容器通孔以及与所述第一或第二金属层相连接的电感器通孔;第三金属层,所述第三金属层包括分别填充所述电容器通孔和所述电感器通孔的填充部分,并且提供第二电路线和电感器线,所述第二电路线被形成在所述第一绝缘层上并且与所述电容器通孔的所述填充部分相连接,所述电感器线与所述电感器通孔的所述填充部分相连接;第二绝缘层,所述第二绝缘层被形成在所述第一绝缘层上,使得所述第二绝缘层覆盖所述第三金属层并且具有与所述第一焊盘通孔相连接的第二焊盘通孔;以及接合焊盘,所述接合焊盘被形成在所述第一和第二焊盘通孔处,使得所述接合焊盘与所述第一金属层相连接。
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- 林时胜;徐志娟;钟汇凯;章盛娇;吴志乾;李晓强;王朋;陈红胜 - 浙江大学
- 2015-01-16 - 2015-05-13 - H01L27/01
- 本发明公开了一种石墨烯基压力传感器,该压力传感器自下而上依次有PVDF压电薄膜、第一石墨烯层、氮化硼层和第二石墨烯层,还具有第一电极和第二电极。其制备方法步骤为:先转移石墨烯到PVDF压电薄膜上;然后转移氮化硼到该石墨烯层上;再在氮化硼上转移石墨烯;最后在上下两层石墨烯上制作电极。本发明的压力传感器利用石墨烯材料的高透光性及高导电性,并结合PVDF压电薄膜的压电性质,不需要外加电源便可工作,可以通过电压或者电流检测压力;同时可以做到超薄和半透明,同时也易于集成应用。
- 具有集成式无源装置的半导体装置及其制造工艺-201410082068.9
- 陈建桦;王盟仁;李德章;李宝男 - 日月光半导体制造股份有限公司
- 2014-03-06 - 2014-09-10 - H01L27/01
- 本发明涉及一种半导体装置及其制作工艺。在一个实施例中,所述半导体装置包含衬底及多个集成式无源装置。所述集成式无源装置设于所述衬底上且包含至少两个电容器,所述至少两个电容器具有不同电容值。
- 片上解耦电容器、集成芯片及其制造方法-201310594462.6
- D·B·法默;A·D·富兰克林;汉述仁;G·S·图勒夫斯基 - 国际商业机器公司
- 2013-11-21 - 2014-06-11 - H01L27/01
- 本发明涉及片上解耦电容器、集成芯片及其制造方法。公开了一种片上解耦电容器。一个或多个碳纳米管被耦合到所述电容器的第一电极。在所述一个或多个碳纳米管上形成介电肤层。在所述介电肤层上形成有金属涂层。所述介电肤层被配置为将所述一个或多个碳纳米管与所述金属涂层电隔离。
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的