[发明专利]半导体结构有效
申请号: | 201010217966.2 | 申请日: | 2010-06-23 |
公开(公告)号: | CN102299135A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 许丹 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528;H01L21/768 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体结构,包括:半导体基底,所述半导体基底表面具有金属层;在所述半导体基底上具有覆盖所述金属层的介质层,在所述介质层中具有暴露所述金属层的接触孔,所述接触孔内填充有导电介质;所述接触孔的侧壁上距离所述金属层一定距离处具有凸起。本发明减少了半导体结构发生断路的可能。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体结构,包括:半导体基底,所述半导体基底表面具有金属层;在所述半导体基底上具有覆盖所述金属层的介质层;在所述介质层中具有暴露所述金属层的接触孔,所述接触孔内填充有导电介质;其特征在于,所述接触孔的侧壁上距离所述金属层一定距离处具有凸起。
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