[发明专利]一种指数掺杂的GaAs肖特基变容二极管及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201010132087.X 申请日: 2010-03-24
公开(公告)号: CN102201455A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 田超;杨浩;董军荣;黄杰;张海英 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/93 分类号: H01L29/93;H01L29/36;H01L21/329
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及到微波技术领域,公开了一种指数掺杂的GaAs肖特基变容二极管,该二极管包括:半导体绝缘GaAs衬底;在半导体绝缘GaAs衬底上外延生长的重掺杂的N+层;在N+层上外延生长的掺杂浓度呈指数分布的N型层;在指数掺杂的N型层上蒸发肖特基接触的上电极;在N+层上蒸发金属形成欧姆接触的下电极。本发明同时公开了一种指数掺杂的GaAs肖特基变容二极管的制作方法。利用本发明可以在不改变传统肖特基二极管结构的前提下改变N型层掺杂浓度,提高GaAs肖特基变容二极管变容比,增强非线性,可用于周期性的非线性传输线中,从而提高毫米波,亚毫米波范围内倍频电路的工作频率和输出功率。
搜索关键词: 一种 指数 掺杂 gaas 肖特基 变容二极管 及其 制作方法
【主权项】:
一种指数掺杂的GaAs肖特基变容二极管,其特征在于,包括:用于支撑整个GaAs肖特基变容二极管的半导体绝缘GaAs衬底;在半导体绝缘GaAs衬底上外延生长的重掺杂的N+层;在N+层上继续外延生长的指数掺杂的N型层;经过挖岛,隔离两个工艺步骤,在N型层、N+层上形成的台面结构;在N型层上蒸发金属形成的肖特基接触的上电极;以及在N+层上蒸发金属形成的欧姆接触的下电极。
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