[发明专利]半导体基底及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910008035.9 申请日: 2009-02-19
公开(公告)号: CN101521211A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: 金元住;李太熙;车大吉;朴允童 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/762;H01L21/302;H01L21/31
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;刘奕晴
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了半导体基底及其制造方法。所述半导体基底包括基底区域、绝缘区域和浮置主体区域。绝缘区域设置在基底区域上。浮置主体区域通过绝缘区域与基底区域分离,并设置在绝缘区域上。基底区域和浮置主体区域由具有相同特性的材料形成。制造半导体基底的方法包括以下步骤:通过蚀刻体基底,形成至少一个浮置主体图案;通过蚀刻浮置主体图案的中间部分,将体基底分离成基底区域和浮置主体区域;在浮置主体区域和基底区域之间填充绝缘材料。
搜索关键词: 半导体 基底 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体基底,所述半导体基底包括:绝缘区域,位于基底区域上;浮置主体区域,通过绝缘区域与基底区域分离,并设置在绝缘区域上,基底区域和浮置主体区域由具有相同特性的材料形成。
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