[发明专利]半导体装置的制法及其用于该制法的承载件无效

专利信息
申请号: 200710135989.7 申请日: 2007-03-14
公开(公告)号: CN101266933A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 洪敏顺;蔡和易;黄建屏;曾文聪;萧承旭 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L21/66;H01L23/12;H01L23/31
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种半导体装置的制法及其用于该制法的承载件,是将结合有芯片的基板置入一承载件的开口中,该承载件形成有至少一贮存孔及检知孔,从而由该贮存孔注入胶料,使该胶料藉毛细现象充填入基板与承载件间的间隙,以由该检知孔是否充填有胶料而判断出基板与承载件间的间隙是否完全为胶料所充填;间隙已完全充填有胶料的则进行模压作业以形成包覆该芯片的封装胶体,再进行植球作业及切割作业以形成所欲的半导体装置。故由检知孔的提供,即能裸眼检知基板与承载件间的间隙是否已完全填充有胶料,而使检测作业成本降低,提升成品的良率,且不会增加封装成本。
搜索关键词: 半导体 装置 制法 及其 用于 承载
【主权项】:
1. 一种半导体装置的制法,包括下列步骤:将接置有芯片的基板设置于一承载件的开口中,该开口略大于该基板,以在该基板与承载件间形成一间隙,且在开口的周缘形成有至少一贮存孔及至少一与该贮存孔间隔开的检知孔;将胶料注入该贮存孔,以通过该间隙所提供的毛细现象,使胶料充填于间隙及检知孔中,并检视该检知孔中是否充填有胶料;形成一封装胶体以覆盖芯片、基板与间隙的全部及承载件的一部分;以及切割该封装胶体及基板以形成一具所欲尺寸的半导体装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽品精密工业股份有限公司,未经矽品精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710135989.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top