[发明专利]具有绝缘体上硅结构的半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 01141512.6 申请日: 2001-09-28
公开(公告)号: CN1347146A 公开(公告)日: 2002-05-01
发明(设计)人: 小林研也 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H01L21/70 分类号: H01L21/70;H01L21/84;H01L27/12
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 穆德骏,方挺
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体器件包括通过第一绝缘膜层叠在或键合于导电支撑衬底上的导电半导体衬底,将至少形成有所需器件的器件形成区与半导体衬底隔离的隔离沟槽,一隔离沟槽,以及半导体衬底不存在的衬底接触区。该半导体器件还包括第二绝缘膜,其填充上述隔离沟槽并覆盖衬底接触区的表面,在半导体衬底上形成的外部连接电极,以及一支撑衬底连接部分,其贯通衬底接触区中的第一绝缘膜和第二绝缘膜,以连接外部连接电极和支撑衬底。
搜索关键词: 具有 绝缘体 结构 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:通过第一绝缘膜层叠在或键合于导电支撑衬底上的导电半导体衬底;将至少形成有所需元件的器件形成区与所述半导体衬底分隔的隔离沟槽;隔离沟槽;其中不存在所述半导体衬底的衬底接触区;第二绝缘膜,其填充上述隔离沟槽并覆盖所述衬底接触区的表面;在所述半导体衬底上形成的外部连接电极;以及支撑衬底连接部分,其通过所述衬底接触区中的所述第一绝缘膜和所述第二绝缘膜,以连接所述外部连接电极和所述支撑衬底。
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