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- [发明专利]一种针对晶上系统的对准方法及装置-CN202311195903.5在审
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张坤;邓庆文;霍婷婷;胡守雷
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之江实验室
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2023-09-18
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2023-10-24
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H01L21/68
- 本发明公开了一种针对晶上系统的对准装置,包括晶上处理器,晶上处理器包括硅基板和芯粒阵列,芯粒阵列包括内部芯粒和外围Dummy芯粒,硅基板背面刻蚀内部焊盘、对准焊盘和测试焊盘;晶圆连接器包括校对孔和弹性连接器,校对孔对准对准焊盘以核准晶圆连接器的位置,弹性连接器连接内部焊盘和测试焊盘;和供电PCB底板,包括测试连线、测试点和定位孔,用定位孔核准供电PCB底板的位置,当加强筋加压供电PCB底板时通过检测测试点的阻抗以确定弹性连接器是否对准和检测翘曲度,通过测试点还能够检测外围Dummy芯粒是否相连。该对准装置能够较为方便的检测对准和翘曲程度,本发明还公开了一种针对晶上系统的对准方法。
- 一种针对系统对准方法装置
- [发明专利]一种针对晶上系统的测试组装方法及装置-CN202311095635.X在审
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张坤;邓庆文;胡守雷;霍婷婷
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之江实验室
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2023-08-29
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2023-09-26
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B07C5/00
- 本发明公开了一种针对晶上系统的测试组装方法及装置,属于集成电路技术领域。所述供电测试装置包括PCB板以及装载于PCB板上的供电模块、测试探针以及调试接口模块,为单个异构处理单元中所有电压域分配独立的电源轨,可监控每个芯粒及其电压域的工作状态。本发明还提供了利用供电测试装置进行晶上系统测试组装方法,在晶上系统的组装过程中逐步检测系统中每一个异构单元中的芯粒是否正常,对于失效的芯粒,切断其供电路径,使其不消耗晶上系统的电能,并且不影响其他芯粒的正常工作。利用本发明可提早发现晶上系统在逐级装配时可能存在的故障和失效问题,并对故障和失效电路进行处理,为晶上系统组装后可靠稳定的运行提供保障。
- 一种针对系统测试组装方法装置
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