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[发明专利]灵敏放大器及存储器-CN202110345514.0有效
发明人：马亮 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G11C7/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种灵敏放大器及存储器，该灵敏放大器包括：电压源、第一预充电单元、读取单元、第二预充电单元和锁存器，本发明中通过对电源电压分压以提供跟随电源电压变化的参考电压，基于对参考电流和存储单元电流的比较结果对电源电压进行不同程度的下拉以产生比较电压，以及分别采用参考电压和比较电压对锁存器上的第一节点和第二节点进行预充电，进而可在锁存器锁存时根据预充电结果实现对存储单元中存储数据的读取。该灵敏放大器能够有效的抑制电源噪声，同时也极大程度的提高了灵敏放大器的速度性能，电路结构简单，占用面积小。
灵敏放大器存储器

[发明专利]传递电路和存储装置-CN202110671532.8在审
发明人：马亮 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-06-17 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：公开了一种传递电路和存储装置，该存储装置包括该传递电路，该传递电路包括预处理单元、锁存单元、第一传输门和第二传输门，预处理单元根据原始数据信号提供差分的第一总线信号和第二总线信号，第一总线信号和第二总线信号分别通过第一传输门和第二传输门提供至锁存单元，经过锁存单元的采样和锁存后提供与原始数据信号匹配的第一数据信号和第二数据信号中的至少一个。本发明的传递电路通过锁存单元采样、锁存后获得原始数据信息，信息传输速度快，且锁存单元通过第一传输门和第二传输门获得第一总线信号和第二总线信号，保障了锁存单元获得的第一总线信号和第二总线信号的准确性，保障了信息传递的准确性。
传递电路存储装置

[发明专利]存储装置及其阈值电压调节方法和存储控制方法-CN202110709541.1在审
发明人：陈刚;刘大海;余作欢;李健球;李迪;赵希军;闫江 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：本申请公开了一种存储装置及其阈值电压调节方法和存储控制方法。该存储装置包括：多个存储单元，多个存储单元排列成阵列且分别包括存储晶体管；多条字线，同一行存储单元的存储晶体管的栅极连接至多条字线的同一条字线；多条位线，同一列存储单元的存储晶体管的漏极连接至多条位线的同一条位线；多条第一连接线，同一列存储单元的存储晶体管的浅P阱区连接至同一条第一连接线；以及多条第二连接线，同一列存储单元的存储晶体管的深N阱区连接至同一条第二连接线。该存储装置针对存内计算优化了器件结构，不仅可以减少存储单元的晶体管数量以减小芯片尺寸，而且可以精确调节存储晶体管的阈值电压以提高计算准确性和可靠性。
存储装置及其阈值电压调节方法控制

[发明专利]基准电压电路-CN202010488301.9有效
发明人：马亮;张登军;查小芳 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G05F1/575 文献下载
摘要：公开了一种基准电压电路，包括分别连接在电源与地之间的启动电路、正负温度系数电流生成电路和基准电压生成电路，启动电路用于提供启动正负温度系数电流生成电路的偏置电压信号，正负温度系数电流生成电路启动后并维持工作状态，提供正温度系数电流和负温度系数电流，基准电压生成电路镜像正温度系数电流和负温度系数电流并叠加，获得零温度系数电流，并根据该零温度系数电流输出基准电压。其中，本发明的基准电压电路的正负温度系数电流生成电路采用工作在亚阈值区的NMOS管实现正负温度系数电流的正负温度响应，NMOS管较双极性晶体管在更小的工艺节点下具有更好的性能保障，可以适应更小的工艺节点技术，提供性能良好的零温度系数的基准电压。
基准电压电路

[发明专利]非易失性存储单元的参考电流确定方法、装置及存储介质-CN202110509589.8在审
发明人：安友伟;马亮;杨小龙 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G11C16/30 文献下载
摘要：本发明公开一种非易失性存储单元的参考电流确定方法、装置及存储介质，其中，参考电流确定方法包括：接收测试机发送的测试参考电流指令，测试参考电流指令包括最小挡位数；生成若干挡互不相同的参考电流值；遍历参考电流值对存储芯片执行读操作，并分别对存储芯片进行读操作校验，记录能够通过校验的参考电流值的挡位数量、最大参考电流值和最小参考电流值；当挡位数量大于或等于最小电流挡位数，根据最大参考电流值和最小参考电流值确定应用于存储芯片的最佳参考电流值。应用本发明的方法，可以使得生产工艺不同的存储芯片能够根据自身内部实际情况设置参考电流值，从而弥补了生产工艺波动等因素带来的性能差异，提高芯片的可靠性。
非易失性存储单元参考电流确定方法装置介质

[发明专利]非易失性存储器的替换方法、装置及存储介质-CN202110509591.5在审
发明人：安友伟;张登军;漆俊贤 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G11C16/08 文献下载
摘要：本发明公开一种非易失性存储器的替换方法、装置及存储介质，其中，替换方法包括：根据编程操作指令对目标区域循环进行编程‑校验操作；当目标区域连续不通过编程‑校验操作的次数大于第一设定值，按字线地址对目标区域执行替换操作；根据擦除操作指令对目标区域循环进行擦除‑校验操作；当目标区域连续不通过擦除‑校验操作的次数大于第二设定值，对目标区域中未通过擦除‑校验操作的字线地址执行替换操作；上述编程‑擦除操作由存储芯片内部执行并根据预设的第一设定值和第二设定值限定内部执行循环的次数，可以降低测试机与存储芯片之间进行通讯的次数，提高测试效率，降低对测试机的性能要求。
非易失性存储器替换方法装置存储介质

[发明专利]参考单元替换方法、装置及存储介质-CN202110509819.0在审
发明人：安友伟;张登军;漆俊贤 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：本发明公开一种参考单元替换方法、装置及存储介质，其中，参考单元替换方法包括接收擦除操作指令；测量参考单元的输出电流，当所述参考单元的输出电流与所述参考单元的设计电流不同，对所述参考单元执行替换操作；根据所述擦除操作指令执行擦除操作。本发明实施例中，当接收到擦除操作指令，存储芯片执行擦除操作之前，对参考单元的进行检测，并对出现问题的参考单元进行替换，可以有效解决参考单元随着存储芯片的使用时间增长而逐渐失效的问题，提高存储芯片的可靠性；另一方面，相对于读写操作来说，擦除操作花费的时间较长，因此选择在擦除操作前进行参考单元检测，可以避免检测过程对存储芯片的读写速度的影响。
参考单元替换方法装置存储介质

[实用新型]接口电路-CN202023060597.9有效
发明人：张登军 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： H03K19/0185 文献下载
摘要：公开了一种接口电路，该接口电路在第一接口和第二接口之间设置有传递单元，该传递单元包括连接在第一接口和第二接口之间的第一晶体管、第二晶体管，以及控制单元，第一晶体管和第二晶体管在第一接口和第二接口之间的导通方向相反，控制单元根据第一控制信号控制第一晶体管和第二晶体管的导通和关断，分别控制两个方向的电压通道的导通和关断。本实用新型的接口电路实现了双向的电压传递，提高了接口电路的实用性，提高了采用该接口电路的芯片检测的效率。
接口电路

[发明专利]数据处理电路和数据处理方法-CN201910924669.2有效
发明人：安友伟;马亮;杨小龙;李建球;余作欢;李迪;闫江;陈刚;刘大海;张登军;逯钊琦 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G06N3/063 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种数据处理电路和数据处理方法，涉及人工智能技术领域。其中数据处理电路包括：I/O单元，用于根据卷积核的行数，输入多行矩阵数据作为第一数据，并标记当前输入的所述多行矩阵数据的末尾行；配置单元，用于根据所述矩阵数据的大小和所述卷积核的大小，提供配置信息；多个FIFO存储模块用于分行存储当前输入的所述第一数据，并且按照先入先出的顺序分别输出所述第一数据；缓存单元，用于根据所述卷积核的列数，缓存所述多个FIFO存储模块中存储的多列所述第一数据，将其作为第二数据，并标记多列所述第一数据的起始列；存算一体芯片，用于接收所述第二数据，利用所述卷积核，对所述第二数据进行卷积运算。
数据处理电路方法

[发明专利]存算一体电路和基于存算一体电路的数据运算方法-CN201910854667.0有效
发明人：安友伟;刘大海;闫江;李迪;陈刚;张登军;李建球;余作欢;逯钊琦 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2019-09-10 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G06F7/50 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种存算一体电路和基于存算一体电路的数据运算方法，涉及存储器技术领域。所述存算一体电路，包括：配置单元，用于在预设精度误差范围内，计算在一次加法运算中所述存储单元的个数的最大值；选通单元，用于根据所述最大值提供选通信号；存算单元，根据所述选通信号将所述存储阵列按行和列分块以得到至少一个子块，所述存算单元用于根据所述选通信号每次选通一个所述子块，以分块对待运算数据和所述存储阵列的存储数据做乘加运算；模数转换单元，用于将每一个所述子块的模拟运算结果模数转换为数字运算结果；累加求和单元，对所述至少一个子块的所述数字运算结果做加法运算，得到所述存算一体电路的乘加运算结果。
一体电路基于数据运算方法

[实用新型]字线电压产生电路-CN202020988778.9有效
发明人：张登军;李建球;朱志能;郭润森;胡晓琼 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G11C16/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种字线电压产生电路，涉及存储器技术领域。字线电压产生电路包括：多个字线电压产生单元，字线电压产生单元的个数与存储器中的存储单元的行数一致，每个字线电压产生单元与每一行存储单元对应的字线连接，多个字线电压产生单元用于分别在不同的配置电压下为每一行存储单元的控制端提供不同的字线电压；供电单元，与多个字线电压产生单元连接，用于根据控制信号分别为多个字线电压产生单元提供不同的配置电压。该字线电压产生电路可产生不同的多个字线电压，进而通过该字线电压产生电路提供擦除操作字线电压和读写操作字线电压，减少了字线电压产生电路的成本，同时减少了字线电压产生电路在芯片的占用面积。
电压产生电路

[发明专利]复位电路、电路板及复位装置-CN202110423747.8在审
发明人：王坤鹏;张芳豪 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-04-20 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： H03K17/22 文献下载
摘要：本发明公开一种复位电路、电路板及复位装置，其中复位电路，包括复位信号生成模块，复位信号生成模块包括第一NMOS管、第二NMOS管、第一分压单元、第二分压单元、第三分压单元以及第四分压单元；第一NMOS管的漏极与第二NMOS管的栅极连接，第一NMOS管的栅极与第二NMOS管的漏极连接，第一NMOS管的源极接地，第一NMOS管的漏极通过第一分压单元连接至电源；第二NMOS管的漏极通过第二分压单元连接至电源，第二NMOS管的漏极通过第三分压单元连接至第二NMOS管的源极，第二NMOS管的源极通过第四分压单元连接至地。该复位电路具有结构简单、成本低的优点，并能够降低出现电源二次上电时的上电复位失效的问题。
复位电路电路板装置

[发明专利]适于Banba结构带隙基准电压源的版图设计方法-CN201910186817.5有效
发明人：马亮;张登军;查小芳;赵士钰;刘大海;杨小龙;安友伟;李迪;逯钊琦 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2019-03-13 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： H01L27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种适于Banba结构带隙基准电压源的版图设计方法，包括以下步骤：将基准电阻划分为若干组属；各个组属的基准电阻混合排布在晶圆的电阻区域上；相同组属的基准电压互相串联组成Banba结构带隙基准电压源中的电阻，组属的数量与Banba结构带隙基准电压源中电阻的数量相同。本发明采用了均匀混合的方式将不同组属的基准电阻分布在晶圆的电阻区域上，相当于将Banba结构带隙基准电压源的电阻拆散成一个个基准电阻随机分布在晶圆上，以此减小晶圆注入、掺杂浓度对电阻的影响，可使基准电压源输出的参考电压Vref的值的分布更加集中。
适于 banba 结构基准电压版图设计方法

[发明专利]调整电压摆幅的电路、电路板、调整装置及闪存存储器-CN202110537894.8在审
发明人：马亮 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G11C16/04 文献下载
摘要：本发明公开一种调整电压摆幅的电路、电路板、调整装置及闪存存储器，其中调整电压摆幅的电路包括电压调整模块和负反馈模块，电压调整模块包括与电源连接的第一电压输入端、用于根据电源的第一电压生成稳定的第二电压的第一信号处理单元和用于输出第二电压的第一电压输出端，第二电压的电压值比第一电压的电压值低；负反馈模块包括与第一电压输出端连接的第二电压输入端、用于接收来自电荷泵的采样信号的采样输入端、根据采样信号以及第二电压得到电荷泵的时钟电源电压的第二信号处理单元以及用于输出时钟电源电压的第二电压输出端，能够使生成时钟电源电压的电压值小于第一电压，能够有效抑制电荷泵的纹波和过冲。
调整电压电路电路板装置闪存存储器

[发明专利]芯片的测试系统和测试方法-CN201910853713.5有效
发明人：安友伟;郭润森;闫江;李迪;陈刚;张登军;刘大海;李建球;余作欢;逯钊琦 -专利权人： 珠海博雅科技有限公司
申请日： 2019-09-10 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种芯片的测试系统及测试方法，该测试系统包括：相互通信连接的上位机和测试单元，测试单元由FPGA芯片搭建且配置多个并行测试模块，测试模块与待测芯片为一一对应关系；测试单元通过上位机写入测试函数，测试函数为基于自定义指令集编写的函数；其中，上位机向测试单元发送开始指令，测试单元在接收到开始指令后运行测试函数以调用多个测试模块分别测试对应的待测芯片，并将基于待测芯片输出数据得到的测试结果发送到上位机。本发明实施例提供的芯片测试系统及测试方法基于FPGA硬件系统且通过自定义指令集编写的测试函数进行测试，解决了芯片同测数量少及测试成本高的技术问题。
芯片测试系统方法

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