专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种GaN基HEMT器件外延结构及其生长方法-CN201710137877.9有效
  • 唐军;潘尧波 - 合肥彩虹蓝光科技有限公司
  • 2017-03-09 - 2021-01-29 - H01L21/02
  • 本发明提供一种GaN基HEMT器件外延结构及其生长工艺,生长工艺包括以下步骤:S1:提供一Si衬底,在其表面制作出多个凹坑;S2:在所述Si衬底表面上形成AlN薄膜,使所述AlN薄膜填充满所述凹坑;S3:在所述AlN薄膜表面上生长AlGaN过渡层;S4:在所述AlGaN过渡层表面上生长GaN耐压层;S5:在所述GaN耐压层表面上生长AlN插入层;S6:在所述AlN插入层表面上生长InAlN势垒层;S7:在所述InAlN势垒层表面上生长GaN盖层。本发明获得的具有InAlN结构的势垒层的HEMT器件外延结构不仅具有高的迁移率,并且具有显著提高的高频、高功率器件性能。
  • 一种ganhemt器件外延结构及其生长方法
  • [发明专利]一种发光二极管芯片及其制造方法-CN201910535164.7有效
  • 吴永军;刘亚柱;唐军;齐胜利 - 合肥彩虹蓝光科技有限公司
  • 2019-06-20 - 2021-01-29 - H01L33/00
  • 本发明提出一种发光二极管芯片及其制造方法,该制造方法包括:提供一衬底;形成外延结构于所述衬底上,所述外延结构包括第一半导体层,第二半导体层;形成图案化电流阻挡层于所述外延结构上;形成电流扩展层于所述外延结构上,并移除部分所述电流扩展层及外延结构,形成凹槽,所述凹槽暴露出部分所述第二半导体层,所述电流扩展层覆盖所述图案化电流阻挡层;形成第一电极于所述电流扩展层上,以及形成第二电极于所述暴露的第二半导体层上;形成第一导电引线于所述第一电极上,以及形成第二导电引线于第二电极上,所述第二导电引线还位于发光二极管芯片的切割道上;形成钝化层于所述第一电极及第二电极两侧。该制造方法设计合理,成本较低。
  • 一种发光二极管芯片及其制造方法
  • [发明专利]一种金属有机物化学气相沉积设备的反应腔体的清洁方法-CN201811415026.7有效
  • 唐军;周陈;齐胜利;潘尧波 - 合肥彩虹蓝光科技有限公司
  • 2018-11-26 - 2020-08-11 - C23C16/455
  • 本发明公开一种金属有机物化学气相沉积设备的反应腔体的清洁方法,本发明包括将所述反应腔体升温到第一温度,并向所述反应腔体内通入氢气,以去除所述反应腔体内的水气,将所述反应腔体升温到第二温度,并持续向所述反应腔体内通入氢气,以利用所述氢气烘烤所述反应腔体,将所述反应腔体保持在所述第二温度,并持续向所述反应腔体内通入氢气,且利用脉冲循环方式向所述反应腔体内通入氨气,向所述反应腔体内通入氮气,在氮气环境下将所述反应腔体的温度逐渐降低到常温。本发明能够有效对腔体内部的覆盖层进行去除,并对腔体内的金属镓、铝等原子进行钝化,保证连续生长过程中的外延片表面正常并且不会发生表面粗化现象。
  • 一种金属有机物化学沉积设备反应清洁方法

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