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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]用于晶圆级测试的治具-CN202210385689.9在审
发明人：卢群;李建明;郭乐 -专利权人：格科微电子（浙江）有限公司
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：一种用于晶圆级测试的治具，包括：主体部，所述主体部包括：第一面，在测试状态下，所述第一面朝向被测晶圆；其中，所述第一面设置有接触部，所述接触部与所述被测晶圆的切割道适配。采用本发明提供的治具对晶圆进行测试，能够减少测试过程中对晶圆的损伤。
用于晶圆级测试

[发明专利]以电路板电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法-CN202210269706.2在审
发明人：张天超 -专利权人：英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团（天津）电子技术有限公司
申请日： 2022-03-18 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法，其通过使用待测电路板上既有的内部集成电路传递控制指令给通过待测电路板上的存储器连接接口与内部集成电路连接的测试装置，测试装置转换控制指令以测试所连接的存储器连接接口的技术手段，可以不使用外部连接线测试待测电路板上的存储器连接接口，并达成提高测试效率的技术功效。
电路板电路传送指令测试连接接口装置系统方法

[发明专利]一种芯片测试系统、方法、装置和存储介质-CN202311027686.9在审
发明人：师亚帆;张亚林;邓辉 -专利权人：上海燧原科技有限公司
申请日： 2023-08-16 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测试系统、方法、装置和存储介质，涉及芯片测试领域，该系统包括：管理控制模块、信号转接模块、信号中继模块、第一插损模拟模块以及多路复用器组；管理控制模块，连接多路复用器组，用于通过控制多路复用器组的端口通断状态构建目标通信链路，以及通过目标通信链路将中央处理器发出的测试信号发送给待测试芯片；本发明实施例的技术方案，实现了服务器中多测试场景下的模拟链路构建，确保了测试结果覆盖了辅助运算装置在服务器中的多个业务场景，提升了测试结果的全面性，同时，该芯片测试系统还确保了各个通信链路下的测试结果基于相同的功能部件获取，提高了测试结果的准确性。
一种芯片测试系统方法装置存储介质

[发明专利]一种无接触式芯片质量检测装置及检测方法-CN202310170034.4有效
发明人：徐振;张羿 -专利权人：杭州朗迅科技股份有限公司
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明涉及芯片检测技术领域，具体为一种无接触式芯片质量检测装置及检测方法，包括无接触式检测筒、上传输装置、下传输装置、升降抓取装置、夹持托板、芯片承载组件和托板释放装置，所述无接触式检测筒包括检测筒体以及缠绕于所述检测筒体外侧的固定线圈和活动线圈，待测芯片以自由落体的方式从检测筒体中部的检测通道穿过，通过固定线圈和活动线圈提供的磁场，对经过该磁场的芯片进行无接触式的检测。
一种接触芯片质量检测装置方法

[实用新型]一种便携式VI曲线测试仪-CN202220932366.2有效
发明人：李朝权 -专利权人：重庆友亭机电设备维修有限公司
申请日： 2022-04-21 - 公布日： 2023-02-21 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便携式VI曲线测试仪，特别是涉及曲线测试仪技术领域，包括主箱体和底座，底座位于主箱体下方；将夹块从底座与底板之间取出，且使得底座向下移动至原位，弹簧可回复至原位，工字块被底板顶住后可向上移动至原位，通过L块对插块进行限位，主箱体便可快速且稳固的与底座固定至一起；将夹块从底座与底板之间取出，且使得底座向下移动至原位，弹簧可回复至原位，而工字块被底板顶住后可向上移动至原位，且字块顶部高度将再次高于方套底部的高度，所以方套便无法向内侧移动，由此可通过L块对插块进行限位，主箱体便可快速且稳固的与底座固定至一起，以解决现有的VI曲线测试仪不便于快速固定至室内以及不便于携带的问题。
一种便携式 vi 曲线测试仪

[发明专利]晶圆缺陷检测方法及系统-CN202010577852.2有效
发明人：胡向华;韩俊伟;何广智;顾晓芳;倪棋梁 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明提供了一种晶圆缺陷检测方法及系统，包括建立网格坐标系并获取晶圆缺陷的坐标；根据任意两个缺陷间的距离值与第一规格值的关系定义临近缺陷；根据两个所述临近缺陷的距离值的偏差值与第二规格值的关系定义连续临近缺陷；根据顺次连接的连续临近缺陷上各缺陷之间的关系及三点连线夹角与第三规格值的关系定义链式缺陷；计算所述链式缺陷的长度。本发明通过对晶圆进行微距离网格坐标化处理，根据晶圆上的缺陷距离、偏差计算及三点连线夹角的方法，从晶圆缺陷中筛选出链式缺陷，并对链式缺陷的长度进行数据收集，实现链式缺陷的系统自诊断，达到链式缺陷的有效管控。
缺陷检测方法系统

[实用新型]一种用于光器件的TEC芯片的ACR测试装置-CN202222350461.4有效
发明人：李攀;翟双喜;谌川林 -专利权人：成都市德科立菁锐光电子技术有限公司;无锡市德科立光电子技术股份有限公司
申请日： 2022-09-02 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于光器件的TEC芯片的ACR测试装置，包括底座和LCR测试仪，底座可拆卸的安装有至少两个测试连接件，测试连接件的一端用于可拆卸连接光器件，测试连接件的另一端可拆卸连接有转接件，转接件与LCR测试仪电连接，转接件与LCR测试仪之间设置有可调电阻。具有测量安全、不易损伤光器件产品、测量精确以及测试效率高的有益效果。
一种用于器件 tec 芯片 acr 测试装置

[实用新型]一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪-CN202220175510.2有效
发明人：董红 -专利权人：上海开研生物科技有限公司
申请日： 2022-01-24 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型涉及集成电路测试仪技术领域，具体揭示了一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体顶部的左侧固定连接有控制按钮，所述测试仪本体的顶部固定连接有显示屏，所述测试仪本体顶部右侧的前侧和背侧均固定连接有支撑座，所述支撑座的内侧固定连接有活动轴。本实用新型通过防尘板围绕支撑座转动，此时防尘板转动于测试仪本体的右侧，通过防尘板的转动带动定位插杆移动，随后通过拉环带动拉板向外侧移动，通过拉板带动定位插杆移动，而定位插杆插入限位座的内部，达到了防尘功能的优点，解决了现有的精密电子工程用集成电路测试仪在使用时不具备防尘功能的问题。
一种精密电子工程反应灵敏集成电路测试仪

[实用新型]一种集成电路用测试装置-CN202220299805.0有效
发明人：陈华龙;刘子杭;陈翠丽 -专利权人：杭州淑慧信息科技有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路用测试装置，包括测试仪，测试仪的顶部通过轴销铰接有凹形板，凹形板的内部滑动连接有滑套，滑套的底端穿过凹形板并延伸至凹形板的底部固定连接有收纳套，收纳套内壁的顶部通过轴销铰接有挡板，收纳套内壁的底部固定连接有垫板，垫板的左侧通过魔术贴与挡板粘合。本实用新型由挡板通过垫板和收纳套对测试导线进行收纳防护，再由拉簧通过滑套和T形杆带动收纳套压紧在橡胶套的表面，对测试仪的插口面进行密封防护，从而具备了便于收纳防护的优点，解决了现有的测试装置在使用后，无法对测试导线进行收纳，同时无法进行防护，灰尘容易进入插口的内部对元件造成影响的问题。
一种集成电路测试装置

[实用新型]一种新型IC测试装置-CN202220150752.6有效
发明人：龙传忠;王开富 -专利权人：深圳市瀚鸿创芯科技有限公司
申请日： 2022-01-20 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型涉及IC测试技术领域，公开了一种新型IC测试装置，包括基板，所述基板顶部外壁固定连接有测试基座，所述测试基座内侧设置有测试簧片，所述基板顶部外壁固定连接有侧板，所述侧板一侧外壁开设有导轨，且导轨内壁滑动连接有升降杆，所述升降杆一端固定连接有螺纹套，所述螺纹套一端固定连接有L型结构的固定杆，所述固定杆底端固定连接有升降板。本实用新型通过设置的第一固定板、第一定位座、第二固定板、第二定位座、定位槽和复位弹簧，能够达到对IC的定位效果，使得在进行测试时，IC不会出现晃动或者位置偏移的现象，并且可以避免在测试过程中对IC造成损坏的现象，保证了测试效果，较为实用，适合广泛推广和使用。
一种新型 ic 测试装置

[实用新型]芯片测试工具及芯片测试装置-CN202123348546.0有效
发明人：朱玥琦;王玉忠;胡吉;何绿民;朱捷 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种芯片测试工具及芯片测试装置，所述芯片测试工具包括：转向测试板，包括第一面和第二面；其中，所述第一面上具有第一引脚，所述第一引脚与待测芯片的引脚对应；所述第一引脚用于连接芯片主板，并将所述待测芯片所需的信号引出；所述第二面上具有与所述第一引脚连接的第二引脚，所述第二引脚的排布方向与所述第一引脚的排布方向之间具有第一夹角；所述第二引脚用于连接所述待测芯片，并将所述信号提供至所述待测芯片。
芯片测试工具装置

[发明专利]一种测试芯片、集成电路测试方法及系统和检测设备-CN202010375825.7有效
发明人：郭桂良;徐梓文;胡佳威 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2020-05-06 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明公开一种测试芯片、集成电路测试方法及系统和检测设备，涉及集成电路测试领域，以解决在一个测试芯片中测试集成电路的新工艺。所述一种测试芯片包括：片上总线系统；与所述片上总线系统通信的选择器；以及与所述片上总线系统通信的处理器。所述集成电路测试方法包括上述技术方案所提的。本发明提供的一种测试芯片和集成电路的测试方法用于在一个测试芯片上测试新工艺过程中确定存在制造缺陷的组件。
一种测试芯片集成电路方法系统检测设备

[实用新型]一种状态自动切换的老化测试装置-CN202123207181.X有效
发明人：吴会祥;李文学;方加政;孙碧垚 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2021-12-20 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种状态自动切换的老化测试装置，包括控制模块和SoC工位模块，所述的控制模块包括单片机、控制切换电路和数据选择开关，所述的SoC工位模块包括功能模块和GPIO模块，所述的GPIO模块中选择任意一个GPIO引脚与数据选择开关输入引脚连接，所述的控制切换电路和功能模块相连，所述的单片机通过控制数据选择开关的选择信号引脚，选通该SoC工位的GPIO引脚，识别该GPIO引脚电平，再通过控制切换电路切换该SoC工位的功能模块的老化测试模式，实现老化测试模式切换。此方式可有效减少人工成本，缩短测试时间，并降低测试难度和测试操作复杂度。
一种状态自动切换老化测试装置

[实用新型]一种霍尔集成电路性能检测装置-CN202123446109.2有效
发明人：牟前金;高昱;郑媚 -专利权人：深圳市晶丰弘实业有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种霍尔集成电路性能检测装置，涉及霍尔集成电路性能检测技术领域，包括底座，底座顶部前侧固定连接有治具，底座顶部后侧固定连接有直角弯板，直角弯板上设有升降组件，所述升降组件底端固定连接有移动组件，所述移动组件上固定连接有检测针，所述治具内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路，所述缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件，所述限位组件固定连接在治具内部，所述安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上，所述安装组件与弹簧组件均位于治具内部，相对于现有技术，本实用新型可有效对霍尔集成电路受到的过度挤压力进行缓冲，即可有效对霍尔集成电路进行防护，避免霍尔集成电路被压损，从而避免经济损失。
一种霍尔集成电路性能检测装置

[实用新型]集成式电工电子检测维修装置-CN202220214997.0有效
发明人：周杰辉;郭亚鹏;高跃鹏;雷艳华;孟庆勋;张中要;温冬冬;钱艳伟;李昆仑;吴俊林 -专利权人：周杰辉
申请日： 2022-01-26 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型提供集成式电工电子检测维修装置，涉及电工电子检测技术领域，包括中心连接件；所述中心连接件内部呈中空状，且中心连接件内部安装有顶齿轮和底齿轮，并且顶齿轮顶部开设有外驱动槽，底齿轮顶部开设有内驱动槽；L型夹持件A，所述L型夹持件A共设置有两个，且L型夹持件A内侧呈齿条状结构，L型夹持件A与中心连接件相连。本实用新型可根据所需维修集成电路板规格，分别对L型夹持件A和L型夹持件B进行滑动调节，使L型夹持件A和L型夹持件B分别夹持在集成电路板四端，起到对集成电路板夹持限位效果，保障集成电路板维修时的稳定性，更好的满足于不同规格集成电路板检修所需。
集成电工电子检测维修装置

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