“G01R31/303”专利分类搜索_专利查询_文献下载_出售_求购_买卖_交易

钻瓜专利网为您找到相关结果75个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种高速数字集成电路测试系统的校准适配板-CN202111310858.4在审
发明人：顾翼;刘文捷;石坚;周厚平;张明虎;丁超 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请日： 2021-11-08 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明提供了一种高速数字集成电路测试系统的校准适配板，所述校准适配板具有与高速数字集成电路测试系统测试板上的信号通道一致的信号对接通道，从而能够将校准适配板直接与测试板上测试夹具进行安装对接，完成校准信号通道的搭建，进而满足高速数字集成电路测试系统的校准精度要求，并省去了自集成电路测试系统上拆装测试板(含夹具)的工作，同时也增加了校准适配板对不同集成电路测试系统的通用性。
一种高速数字集成电路测试系统校准适配板

[实用新型]一种新型简易高效自动化测试仪-CN202121619283.X有效
发明人：梁会锋;林茂;沈怿皓;陶宇婷 -专利权人：上海中基国威电子股份有限公司
申请日： 2021-07-16 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新型简易高效自动化测试仪，包括主板，所述主板上分别安装有主控芯片、显示屏、电源接口、程序选择控制接口、机械手控制接口、锁紧座、指示灯组和程序读写接口，所述主板上分别设有ADC参考电压电路、供电电路、显示接口电路、模式选择电路、机械手通讯电路、指示灯驱动电路、测试接口电路和程序升级电路。本实用新型通过机械手通讯电路和测试接口电路实现量产芯片和散装芯片的双模测试，通过程序升级电路实现根据芯片种类更新测试程序，实现多种芯片的测试，增加其适用性。
一种新型简易高效自动化测试仪

[发明专利]一种全自动三轮测试仪的测试装置-CN201910749674.4有效
发明人：肖康南;吴帮军 -专利权人：东莞市锐祥智能卡科技有限公司
申请日： 2019-08-14 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明公开一种全自动三轮测试仪的测试装置，包括测试机台，测试机台上设有自动供卡机构、卡片自动夹持机构、控制卡片自动夹持机构左右移动的移动控制机构和对卡片进行长度方向插拔测试的三轮测试机构，自动供卡机构位于卡片自动夹持机构的一侧，自动供卡机构每次从底部水平刮出一张卡片至卡片自动夹持机构进行夹持，移动控制机构带动卡片自动夹持机构左右来回在三轮测试机构进行卡片插拔测试。本申请的这种供卡方式能够提高卡片的装夹速度，不需要人工来回拆卸夹具，减少人工劳动量，卡片堆叠空腔能够一次性堆叠50张以上的卡片，不需要人工来回放卡。
一种全自动三轮测试仪测试装置

[发明专利]一种适用于激光微束单粒子瞬态效应实验的降噪方法-CN202111116005.7在审
发明人：潘霄宇;郭红霞;张凤祁;冯亚辉;张晋新 -专利权人：西北核技术研究所
申请日： 2021-09-23 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明提供一种适用于激光微束单粒子瞬态效应实验的降噪方法，主要解决激光器本底噪声对获取的单粒子瞬态波形数据造成干扰的问题。该方法包括：步骤一、将激光器的TTL电平发射端口连接至示波器的外部触发信号通道，并设置示波器的触发模式为外部通道触发；步骤二、设定实验条件，确定芯片对单粒子效应不敏感的区域A和敏感的区域B；步骤三、激光器对区域A进行逐点扫描，获得激光器的本底噪声波形；步骤四、对区域B进行常规的SET考核实验，并保存采集到的波形数据；步骤五、对步骤三获取的本底噪声波形进行均值化处理；步骤六、将步骤四获取的波形数据减去步骤五均值化处理后的本底噪声波形，得到真实平滑的芯片SET波形。
一种适用于激光微束单粒子瞬态效应实验方法

[发明专利]全垫覆盖边界扫描-CN201780031966.3有效
发明人： P·纳拉亚南;R·米塔尔;R·梅赫罗特拉 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2017-05-01 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：在所描述的实例中，一种集成电路(200)包含功能电路(214)及测试电路(212)。一组垫(P0‑P4)在第一状态中可操作用于将测试信号传达到所述测试电路(212)，并且在第二状态中可操作用于将输入/输出信号传达到所述功能电路(214)。不同于所述一组垫(P0‑P4)的第二组垫(P5‑P9)在所述第二状态中可操作用于将测试信号传达到所述测试电路(212)，用于测试在所述第二状态中与所述一组垫(P0‑P4)相关联的信号。
覆盖边界扫描

[发明专利]半导体测试设备和方法、以及数据分析设备-CN201610825847.2有效
发明人：李淳永;裵相右 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2016-09-14 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：一种半导体测试设备，其包括：致动器，其保持辐射源并调整所述辐射源与样品之间的距离；以及控制器，其控制所述致动器的操作，并基于所述辐射源与所述样品之间的距离来计算所述样品的软错误率(SER)。所述控制器计算所述样品的SER在该处变为零的、所述辐射源与所述样品之间的第一距离，并基于所述第一距离来计算所述样品的金属‑介电比。
半导体测试设备方法以及数据分析

[发明专利]模拟测试方法、系统、装置、集线器和存储介质-CN201910237498.6有效
发明人：郑任持;宋坤贤 -专利权人：百富计算机技术（深圳）有限公司
申请日： 2019-03-27 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本申请涉及测试技术领域，提供了一种模拟测试方法、系统、装置、集线器和存储介质。方法包括：通过接收切换指令，根据切换指令自动切换目标读卡器和自动切换目标模拟头，从而切换待测智能卡和待测设备；通过接收待测设备通过目标模拟头发送的测试请求，根据测试请求通过目标读卡器读取待测智能卡中的第一数据，然后将第一数据通过目标模拟头转发至待测设备，实现待测设备与待测智能卡之间的数据交互，从而完成当前测试任务；由于在切换智能卡时无需移卡便可实现智能卡的自动切换，节省智能卡切换的时间；在切换待测设备时，无需移动待测设备便可实现待测设备的自动切换，节省待测设备切换的时间，从而大量地减少了测试时间，有效提高了测试效率。
模拟测试方法系统装置集线器存储介质

[实用新型]一种可以调节工位的集成电路测试仪-CN202021642053.0有效
发明人：曹浏 -专利权人：士业电子科技徐州有限公司
申请日： 2020-08-10 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可以调节工位的集成电路测试仪，包括底板，所述底板的顶部固定连接有箱体，所述箱体的左侧固定安装有电机，所述电机的输出轴传动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的顶部固定连接有支撑杆，所述支撑杆的顶部固定连接有放置板。本实用新型通过电机的输出轴传动连接有螺纹杆，螺纹杆的外表面螺纹连接有螺纹套，螺纹套的顶部固定连接有支撑杆，起到了可调节左右检测工位的效果，通过放置板的顶部固定安装有气缸，气缸的顶部固定连接有本体，起到了可调节上下检测工位的效果，解决了现有的集成电路测试仪不具备可调节工位的功能，从而当需要调节检测工位时都为人工调节的问题。
一种可以调节集成电路测试仪

[发明专利]具有低功率扫描系统的集成电路-CN201610754723.X有效
发明人：王岭;张旺根;章伟 -专利权人：恩智浦美国有限公司
申请日： 2016-08-29 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本公开涉及具有低功率扫描系统的集成电路。能够以扫描模式工作的集成电路包括由级联触发器单元形成的扫描链。每个触发器单元包括主锁存器，所述主锁存器接收第一数据信号并生成第一锁存信号；从锁存器，所述从锁存器接收第一锁存信号并生成第二锁存信号，以及多路复用器，所述多路复用器具有分别地连接至主锁存器和从锁存器的第一输入和第二输入，所述多路复用器接收第一输入信号和第二锁存信号并取决于输入触发信号生成扫描数据输出信号。第一输入信号是第一数据信号和第一锁存信号中的一个。由输入触发信号对提供至从锁存器的时钟信号进行门控。
具有功率扫描系统集成电路

[发明专利]通过扫描测试的扫描链所执行的电路排错方法及电路排错系统-CN201610820540.3有效
发明人：郭俊仪;陈莹晏;李日农 -专利权人：瑞昱半导体股份有限公司
申请日： 2016-09-13 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本公开提供一种通过扫描测试的扫描链所执行的电路排错方法及电路排错系统。其中，排错方法包含：利用一排错电路判断一特定电路的一操作状态并产生一判断结果；通过一扫描链路径上的一寄存器储存该判断结果，其中该扫描链路径用以执行一扫描测试；以及通过该扫描链路径上的一输出连接垫来输出该判断结果，其中该判断结果用来被观察以对该特定电路进行排错。本公开提供的排错方法可省下大量输出垫以节省制造成本。
通过扫描测试执行电路方法系统

[实用新型]一种检测效果好的线路板测试装置-CN201920622090.6有效
发明人：师旭朝;崔士英;张卫波 -专利权人：河北金博电梯智能设备有限公司
申请日： 2019-04-30 - 公布日： 2020-02-18 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型属于电路设计技术领域，提出了一种检测效果好的线路板测试装置，包括机架，机架上依次设置有升降机构、上测试基板、下测试基板和检测板，升降机构带动上测试基板靠近或远离下测试基板，下测试基板移动设置在机架上，且下测试基板的移动方向与升降机构的移动方向一致，还包括测试探针，测试探针垂直穿过下测试基板，下测试基板上设置有供测试探针通过的通孔一，测试探针的轴向与升降机构的移动方向一致，测试探针一端与检测板连接，且测试探针与检测板连接的一端固定设置在机架上。通过上述技术方案，解决了现有技术中线路板测试装置测试效果差的问题。
一种检测效果线路板测试装置

[发明专利]采用聚焦离子束的电路跟踪-CN201611060195.4有效
发明人：克里斯·帕夫洛维奇;亚历山大·索金;迈克尔·W·法纳夫;亚历山大·克里茨米尔;肯·G·拉加里克 -专利权人：泰科英赛科技有限公司
申请日： 2014-04-23 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：用于通过采用聚焦离子束成像技术跟踪在集成电路上的电子线路的方法和系统。在集成电路上的第一组件或节点被连接到一集成电路上的第二组件或节点。在一个外部偏压被施加到所述第一组件或节点，一聚焦离子束被施加到所述集成电路，并且使用一个电子探测器采集图像。连接到第二组件的，在集成电路上的特征或组件将会在结果图像上产生高对比度。该方法还包括施加一个偏压给一个节点或组件，并且随后使用聚焦离子束技术(通过一电子探测器)以达成该集成电路的图案。连接到该节点的组件会在结果图像上呈现高对比度。
采用聚焦离子束电路跟踪

[发明专利]非接卡射频性能自动测试系统及其测试方法-CN201610002960.0有效
发明人：张强;林魁 -专利权人：福建联迪商用设备有限公司
申请日： 2016-01-06 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本发明提供一种非接卡射频性能自动测试系统及其测试方法，该测试系统包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路；所述校准PICC电路接在三轴测试机构上，校准PICC电路接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC。通过该系统实现了自动测试射频性能，具有设备造价低，测量结果准确等优点。
非接卡射频性能自动测试系统及其方法

[实用新型]一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪-CN201821263599.8有效
发明人：严朝辉;刘渊 -专利权人：江苏恒宝智能系统技术有限公司
申请日： 2018-08-06 - 公布日： 2019-02-22 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本申请公开了一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪，涉及IC卡非接触模块测试技术领域。所述群组测试仪包括测试机台、控制器和测试单元群组，测试单元群组包括机箱、探针组和电源模块，机箱包括读卡器主板和平行放置的第一感应板和第二感应板。采用本申请的群组测试仪，能够实现降低测试仪成本，量产测试双界面模块的非接触界面功能。
群组测试单元测试仪感应板机箱测试技术领域非接触界面非接触模块双界面模块测试机台电源模块控制器读卡器探针组量产主板申请测试

[实用新型]一种闪存芯片测试机-CN201820210966.1有效
发明人：王永安 -专利权人：上海季丰电子股份有限公司
申请日： 2018-02-07 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种闪存芯片测试机，包括测量笔放置箱、电机、安装箱和安装杆，所述电机通过皮带转动连接主动轮，主动轮通过动轮支架固定安装在安装杆，安装杆通过连接柱固定安装在安装箱的表面顶端，所述安装杆的一端安装有从动轮，且从动轮和主动轮通过传送带转动连接，所述连接柱的中间表面安装有放置平台，放置平台的顶端安装有测量笔放置箱，测量笔放置箱的表面镶嵌有电阻测量表，所述电阻测量表通过电线电连接测量笔，测量笔固定放置在测量笔固定槽内，所述测量笔固定槽通过滑轮活动安装在复位杆上，复位杆的中间处焊接有移动柱。本实用新型采用缓慢传送带把芯片送到工作人员的测试平台进行精确测试，效率高且测试精确。
测量笔安装杆放置箱主动轮本实用新型电阻测量表传送带放置平台闪存芯片安装箱测试机从动轮复位杆固定槽连接柱电机测试表面顶端表面镶嵌测试平台顶端安装动轮支架固定放置活动安装皮带转动中间表面转动连接电连接移动柱中间处滑轮焊接电线芯片