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[实用新型]一种XRD制样夹具-CN202320923081.7有效
发明人：武文佼;唐煜;杨佳悦;张朝阳;孔梓茗;邓涛;徐彦;王斌 -专利权人：新乡学院
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：本申请提供一种XRD制样夹具，涉及XRD测试技术领域。XRD制样夹具包括载物台，载物台上开设有样品槽，还包括安装组件以及设置于安装组件上的支撑组件以及直线驱动组件，载物台可拆卸固定连接于安装组件上，支撑组件安装于样品槽的上方，直线驱动组件包括螺杆以及定位套筒，定位套筒固定连接于安装组件上，支撑组件安装于定位套筒内并通过定位组件与定位套筒竖直滑动连接，支撑组件内部开设螺纹孔，螺杆螺纹连接于螺纹孔内，使得螺杆转动驱动支撑组件在定位套筒内竖直升降。本申请提供的XRD制样夹具，能够根据样品的厚度，调整支撑组件的高度，直至支撑组件抵接于样品的背面，完成上样，本申请的制样夹具，结构简单，操作方便。
一种 xrd 夹具

[发明专利]高温合金粉末过饱和度极限状态的高效评价和验证方法-CN202310850677.3在审
发明人：郑亮;张国庆;张利冲;张轶波 -专利权人：中国航发北京航空材料研究院
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明涉及一种高温合金粉末过饱和度极限状态的高效评价和验证方法，包括以下步骤：1)采用同步辐射检测同一成分不同粒度的粉末的γ′相析出情况；2)再用纳米硬度测定过饱和度极限上下粒度的粉末的硬度值，通过硬度来标定粉末的过饱和度极限状态，具体包括以下步骤：采用纳米硬度压痕测定不同粒度的高温合金粉末的硬度值，包括析出γ′及微量相和不析出γ′及微量相的粉末；确定过饱和度极限态上、下粒度的粉末的硬度值；测量自由凝固高温合金粉末或增材制造后高温合金块体材料的纳米硬度，与过饱和度态粉末的硬度进行比对，通过该成分高温合金粉末纳米硬度测试结果作为高效评价粉末过饱和度极限态的依据。本发明检测灵敏度高、结果准确性好。
高温合金粉末饱和度极限状态高效评价验证方法

[发明专利]电池疲劳强度确定方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310740184.4有效
发明人：吴凯;贺鲁炎;罗东升;耿慧慧;李伟 -专利权人：宁德时代新能源科技股份有限公司
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本申请涉及一种电池疲劳强度确定方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取目标电池中包括焊缝截面的焊接样件，并获取焊缝截面中焊缝区的晶粒度特征和焊缝区的热影响区的晶粒度特征，进而根据焊缝区的晶粒度特征和热影响区的晶粒度特征，确定目标电池的电池疲劳强度。该方法中，基于电池上的各部件焊接后呈现的疲劳强度是与部件材料内部的晶粒度直接相关的特性，直接以焊接样件上焊接截面中焊缝区与热影响区的晶粒度特征作为确定电池疲劳强度的判定指标，相当于是以直接影响焊接样件疲劳强度的晶粒度特征来确定焊接样件所属电池的疲劳强度，从而可以真实且精确地确定出电池疲劳强度，提高了确定电池疲劳强度的准确性。
电池疲劳强度确定方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种TiAl合金粉末EBSD样品的制备方法-CN202310784699.4在审
发明人：寇宏超;于永浩;张子龙;王亚榕;李金山 -专利权人：西北工业大学
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：本发明公开了一种TiAl合金粉末EBSD样品的制备方法，包括以下步骤：步骤1：将TiAl合金粉末均匀的洒在模具的下表面；步骤2：将Al合金颗粒完全熔化后搅拌一段时间得到Al合金熔融液；步骤3：将所述Al合金熔融液迅速倒入铺有所述TiAl合金粉末的模具中，然后迅速将所述模具进行降温；等所述模具温度降到室温后，将所述Al合金从所述模具中取出，则得到粘结有TiAl合金粉末的Al合金；步骤4：将所述粘结有TiAl合金粉末的Al合金进行打磨、抛光处理后得到最终的TiAl合金粉末EBSD样品。采用本发明制备EBSD样品的解析率高，可以保证解析率在95%以上。本发明制备EBSD样品的操作简单易行、节约时间，整个流程仅需要十几分钟就可以完成，极大地缩短了实验流程。
一种 tial 合金粉末 ebsd 样品制备方法

[发明专利]一种电子背散射衍射的分析方法-CN202010517623.1有效
发明人：崔桂彬;鞠新华;杨瑞 -专利权人：首钢集团有限公司
申请日： 2020-06-09 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子背散射衍射的分析方法：根据预设工艺制备标定样品；根据预设工作参数，在扫描电镜下对标定样品进行电子背散射衍射EBSD分析，确定标定样品的目标晶界；采用第一扫描步长对目标晶界进行线扫描分析，获取在线扫描路径上的全部采样点的菊池花样的花样质量BC值；对所有的BC值进行单峰拟合，获得BC值的单峰拟合曲线；确定单峰拟合曲线的半高宽，将半高宽确定为扫描电镜在预设工作参数下的EBSD分析的空间分辨率；根据空间分辨率，确定对待分析样品进行EBSD分析时的目标分析参数。上述方法能够更加方便、快捷地分析出当前工作参数下EBSD的空间分辨率，基于此提高对待分析样品进行EBSD分析的准确性。
一种电子散射衍射分析方法

[发明专利]由一张电子衍射花样重构晶体布拉菲格子的方法-CN201910631318.2有效
发明人：施洪龙 -专利权人：中央民族大学
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：一种利用一张电子衍射花样重构晶体的布拉菲格子的方法包括如下步骤：步骤1)：记录待测晶体的带轴电子衍射花样，得到一张含有高阶劳厄衍射的带轴电子衍射花样；步骤2)：测量二维初基胞；步骤3)：测量高阶劳厄衍射环；步骤4)：测量高阶劳厄衍射点；步骤5)：三维倒易初基胞的重构；步骤6)：将步骤5)中得到的倒易初基胞转化为正格子；步骤7)：约化处理；步骤8)：将Niggli约化胞转换为布拉菲格子。所述方法仅由一张含有高阶劳厄衍射点的带轴电子衍射花样，即可分析出所测晶体的点阵类型及晶格常数；在实际的电镜实验和数据分析中，可大大减少实验和分析的工作量。
一张电子衍射花样晶体布拉菲格子方法

[发明专利]低温条件下制备XRD岩石试样的实验装置及使用方法-CN202011581605.6有效
发明人：李振华;王文强;杜锋;程志恒;焦小建;汪隆靖;高阳;杨锋 -专利权人：河南理工大学
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：低温条件下制备XRD岩石试样的实验装置及使用方法，包括电控装置和长方体形状的箱体，箱体底部四角处分别设有一根支腿，箱体顶部设有进料斗，箱体内设有位于进料斗正下方的破碎机构，破碎机构正下方设有研磨机构，箱体底部在研磨机构下方开设有下料口，箱体底部在下料口下方设有振动筛，箱体内壁设有冷却导料通道结构。本发明结构简单、使用方便，能最大限度降低温度对岩石颗粒影响的一种低温条件下制备XRD岩石粉末试样的实验装置。通过降温装置能够有效减少在破碎研磨中放出的热对粉末颗粒造成的影响，通过控制面板调节研磨速度可适用于不同硬度的岩石块体，多组破碎研磨滚筒能够提高研磨的效率。
低温条件下制备 xrd 岩石试样实验装置使用方法

[发明专利]利用电子衍射进行物相识别的方法-CN201910703052.8有效
发明人：施洪龙 -专利权人：中央民族大学
申请日： 2019-07-31 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明提出了由电子衍射花样进行物相识别的新方法，可用于已知化学组分但不能确定其晶体结构的材料的物相识别，尤其适用于难以获得多张衍射花样的场合。本发明的优点为：只需要记录一张含高阶劳厄衍射环的带轴电子衍射花样或者在同一待测晶体的晶粒上记录一张零阶劳厄衍射点花样和一张对应的高阶劳厄衍射环花样，虽然不能完全确定待测晶体的布拉菲格子，但利用所测量的高阶劳厄衍射环的半径和初基原胞体积与目标结构的计算结果比对，不仅能提高指标化的准确性，还能有效过滤不满足条件的备选物相，大大提高了物相分析的准确性；在实际的电镜实验和数据分析中，明显提高工作效率。
利用电子衍射进行相识别的方法

[发明专利]高能电子衍射测量方法及分子束外延系统-CN202310396284.X在审
发明人：谢斌平;杨贺鸣;张凯 -专利权人：费勉仪器科技（上海）有限公司
申请日： 2023-04-14 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本公开提供了一种高能电子衍射测量方法及分子束外延系统，高能电子衍射测量方法包括：使用电子束在衬底上进行扫描；对衬底上的多个扫描点，采集多个RHEED图像；对多个RHEED图像进行分析，以获得衬底上的膜的信息。分子束外延系统包括：真空腔，用于容纳衬底；电子束发射装置，用于向衬底发射电子束；采集装置，用于对衬底上的多个扫描点，采集多个RHEED图像；以及控制装置，用于对多个RHEED图像进行分析，以获得衬底上的膜的信息。
高能电子衍射测量方法分子外延系统

[发明专利]赤泥注浆材料测试分析方法-CN202111648299.8有效
发明人：刘振楠;何军;王海永;张彦飞;李丰林;王彩辉;孙国文 -专利权人：中铁十八局集团有限公司;石家庄铁道大学
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：本发明涉及一种赤泥注浆材料测试分析方法，属于材料测试技术领域。测试分析方法依次包括水泥净浆成型及抗压强度测试、水泥净浆流动度测试、水泥净浆凝结时间测试、XRD成分分析、SEM表面性状分析、TGA热重分析以及红外光谱测试。本发明为赤泥注浆材料的大规模应用提供了测试分析的基础。其赤泥注浆材料测试和分析方法统一，精准翔实，试验手段可控，能够有效的对赤泥注浆材料的性能进行有效的分析和判断，具有较好的标准化推广前景。
赤泥注浆材料测试分析方法

[发明专利]一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法-CN202310441628.4在审
发明人：王帅;刘文齐;黄陆军;麻子硕;金嘉熠;安琦;张宇;耿林 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-04-23 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法，本发明具体涉及一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法。本发明针对晶粒细小且导电性较差的钛合金等粉末存在制备的EBSD样品导电性差、标定率低的问题。方法：一、将粉末制成块体样品；二、使用银胶将金属粉末粘在导电性好的铜块上；三、抛光、腐蚀，完成制备。本发明用于EBSD检测。
一种具有细小晶粒电导率金属 ebsd 检测样品制备方法

[发明专利]一种新冠病毒快速检测装置及检测方法-CN202310383936.6在审
发明人：应朝国 -专利权人：东莞市汇览精密五金有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明公开了一种新冠病毒快速检测装置，包括真空检测室，所述真空检测室内设置有轨道、载片传送机构、图像放大显示机构和图像识别系统，该新冠病毒快速检测装置采用物理检测方法，利用散射的电子束照射病毒、细菌，投射到荧光屏上，实现对病毒、细菌的高倍物理放大，然后配合图像识别系统，根据病毒、细菌的固有特征进行确认识别，能够实现单个标本的检测并且结果即检即知，检测效果迅速且准确；该新冠病毒快速检测装置自动化程度较高，能有效减少检测人员的感染几率。
一种病毒快速检测装置方法

[发明专利]一种消除原子热振动效应的微观成像方法及装置-CN202310463343.0在审
发明人：于荣;杨文峰;沙浩治;崔吉哲 -专利权人：清华大学
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本申请涉及一种消除原子热振动效应的微观成像方法及装置。所述方法包括：在第i轮成像过程中通过电子束对待测样品进行扫描，并采集各扫描区域的衍射强度矩阵；分别获取待测样品各待测层的透射函数集合；针对任一扫描区域和任一原子热振动状态，根据各待测层的透射函数，以及扫描区域的电子束函数，构建扫描区域对应的出射波函数；根据各扫描区域在各原子热振动状态下的出射波函数、及各扫描区域的衍射强度矩阵，确定第i轮成像过程的损失函数值；在损失函数值大于损失阈值的情况下，调整各透射函数的参数，并进入第i+1轮成像过程；在损失函数值小于或者等于损失阈值的情况下，根据各透射函数得到待测样品的微观图像。采用本方法能够提高成像精度。
一种消除原子振动效应微观成像方法装置

[发明专利]一种尖晶石微米颗粒的球差矫正TEM样品制备方法-CN202010215865.5有效
发明人：王磊;曲迪;姬静远;白国人;陈帅;陈景春 -专利权人：天津华慧芯科技集团有限公司
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：本发明公开了一种尖晶石微米颗粒的球差矫正TEM样品制备方法，属于材料加工技术领域，其特征在于，包括如下步骤：S1、制样和筛选颗粒，其中，制样过程：首先准备一片1cm×1cm硅片，用牙签或棉签蘸取适量粉末样品，将粉末样品蹭在上述硅片上；然后用高压氮气枪间断的吹5～10次；最后用双面碳胶带将硅片固定在样品台上；筛选颗粒过程：首先，进样后，移动样品台，在SEM下寻找单独的、无磨损的、待观察的截面垂直于硅片表面的颗粒；然后，通过旋转样品台，将要提取的颗粒截面方向转平；S2、沉积pt保护层；S3、挖大槽；S4、U形切，S5、提取薄片；S6、放样；S7、减薄和低电压清洗。
一种尖晶石微米颗粒矫正 tem 样品制备方法

[发明专利]一种封装基板EBSD样品及其制备方法-CN202211599582.0在审
发明人：霍发燕;王建彬;计欣磊;孟伟 -专利权人：上海美维科技有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：本发明提供的封装基板EBSD样品及其制备方法，结合机械抛光和电解抛光以及导电处理工艺、再利用FIB‑SEM双束系统的离子束对去除待测区域表面的导电层，既可以保证待测试区域衍射花样信息的完整性，又可以在一定程度上保持封装基板EBSD样品的导电性，同时降低封装基板EBSD样品表面的氧化程度，从而制备出具有较高EBSD标定率的封装基板EBSD样品，其EBSD标定率可至85％～95％及以上；利用所述制备方法制备得到的封装基板EBSD样品，可测试的区域大，从而可以得到封装基板中盲孔的全部EBSD测试分析信息；相比于单一的FIB离子束切割制备封装基板EBSD样品，其制备时间短，生产效率高且制备过程中的电解抛光液也可重复使用，从而在一定程度上降低生产成本。
一种封装 ebsd 样品及其制备方法

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