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[发明专利]高温合金粉末过饱和度极限状态的高效评价和验证方法-CN202310850677.3在审
发明人：郑亮;张国庆;张利冲;张轶波 -专利权人：中国航发北京航空材料研究院
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明涉及一种高温合金粉末过饱和度极限状态的高效评价和验证方法，包括以下步骤：1)采用同步辐射检测同一成分不同粒度的粉末的γ′相析出情况；2)再用纳米硬度测定过饱和度极限上下粒度的粉末的硬度值，通过硬度来标定粉末的过饱和度极限状态，具体包括以下步骤：采用纳米硬度压痕测定不同粒度的高温合金粉末的硬度值，包括析出γ′及微量相和不析出γ′及微量相的粉末；确定过饱和度极限态上、下粒度的粉末的硬度值；测量自由凝固高温合金粉末或增材制造后高温合金块体材料的纳米硬度，与过饱和度态粉末的硬度进行比对，通过该成分高温合金粉末纳米硬度测试结果作为高效评价粉末过饱和度极限态的依据。本发明检测灵敏度高、结果准确性好。
高温合金粉末饱和度极限状态高效评价验证方法

[发明专利]电池疲劳强度确定方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310740184.4有效
发明人：吴凯;贺鲁炎;罗东升;耿慧慧;李伟 -专利权人：宁德时代新能源科技股份有限公司
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本申请涉及一种电池疲劳强度确定方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取目标电池中包括焊缝截面的焊接样件，并获取焊缝截面中焊缝区的晶粒度特征和焊缝区的热影响区的晶粒度特征，进而根据焊缝区的晶粒度特征和热影响区的晶粒度特征，确定目标电池的电池疲劳强度。该方法中，基于电池上的各部件焊接后呈现的疲劳强度是与部件材料内部的晶粒度直接相关的特性，直接以焊接样件上焊接截面中焊缝区与热影响区的晶粒度特征作为确定电池疲劳强度的判定指标，相当于是以直接影响焊接样件疲劳强度的晶粒度特征来确定焊接样件所属电池的疲劳强度，从而可以真实且精确地确定出电池疲劳强度，提高了确定电池疲劳强度的准确性。
电池疲劳强度确定方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种电子背散射衍射的分析方法-CN202010517623.1有效
发明人：崔桂彬;鞠新华;杨瑞 -专利权人：首钢集团有限公司
申请日： 2020-06-09 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子背散射衍射的分析方法：根据预设工艺制备标定样品；根据预设工作参数，在扫描电镜下对标定样品进行电子背散射衍射EBSD分析，确定标定样品的目标晶界；采用第一扫描步长对目标晶界进行线扫描分析，获取在线扫描路径上的全部采样点的菊池花样的花样质量BC值；对所有的BC值进行单峰拟合，获得BC值的单峰拟合曲线；确定单峰拟合曲线的半高宽，将半高宽确定为扫描电镜在预设工作参数下的EBSD分析的空间分辨率；根据空间分辨率，确定对待分析样品进行EBSD分析时的目标分析参数。上述方法能够更加方便、快捷地分析出当前工作参数下EBSD的空间分辨率，基于此提高对待分析样品进行EBSD分析的准确性。
一种电子散射衍射分析方法

[发明专利]由一张电子衍射花样重构晶体布拉菲格子的方法-CN201910631318.2有效
发明人：施洪龙 -专利权人：中央民族大学
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：一种利用一张电子衍射花样重构晶体的布拉菲格子的方法包括如下步骤：步骤1)：记录待测晶体的带轴电子衍射花样，得到一张含有高阶劳厄衍射的带轴电子衍射花样；步骤2)：测量二维初基胞；步骤3)：测量高阶劳厄衍射环；步骤4)：测量高阶劳厄衍射点；步骤5)：三维倒易初基胞的重构；步骤6)：将步骤5)中得到的倒易初基胞转化为正格子；步骤7)：约化处理；步骤8)：将Niggli约化胞转换为布拉菲格子。所述方法仅由一张含有高阶劳厄衍射点的带轴电子衍射花样，即可分析出所测晶体的点阵类型及晶格常数；在实际的电镜实验和数据分析中，可大大减少实验和分析的工作量。
一张电子衍射花样晶体布拉菲格子方法

[发明专利]利用电子衍射进行物相识别的方法-CN201910703052.8有效
发明人：施洪龙 -专利权人：中央民族大学
申请日： 2019-07-31 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明提出了由电子衍射花样进行物相识别的新方法，可用于已知化学组分但不能确定其晶体结构的材料的物相识别，尤其适用于难以获得多张衍射花样的场合。本发明的优点为：只需要记录一张含高阶劳厄衍射环的带轴电子衍射花样或者在同一待测晶体的晶粒上记录一张零阶劳厄衍射点花样和一张对应的高阶劳厄衍射环花样，虽然不能完全确定待测晶体的布拉菲格子，但利用所测量的高阶劳厄衍射环的半径和初基原胞体积与目标结构的计算结果比对，不仅能提高指标化的准确性，还能有效过滤不满足条件的备选物相，大大提高了物相分析的准确性；在实际的电镜实验和数据分析中，明显提高工作效率。
利用电子衍射进行相识别的方法

[发明专利]高能电子衍射测量方法及分子束外延系统-CN202310396284.X在审
发明人：谢斌平;杨贺鸣;张凯 -专利权人：费勉仪器科技（上海）有限公司
申请日： 2023-04-14 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本公开提供了一种高能电子衍射测量方法及分子束外延系统，高能电子衍射测量方法包括：使用电子束在衬底上进行扫描；对衬底上的多个扫描点，采集多个RHEED图像；对多个RHEED图像进行分析，以获得衬底上的膜的信息。分子束外延系统包括：真空腔，用于容纳衬底；电子束发射装置，用于向衬底发射电子束；采集装置，用于对衬底上的多个扫描点，采集多个RHEED图像；以及控制装置，用于对多个RHEED图像进行分析，以获得衬底上的膜的信息。
高能电子衍射测量方法分子外延系统

[发明专利]一种新冠病毒快速检测装置及检测方法-CN202310383936.6在审
发明人：应朝国 -专利权人：东莞市汇览精密五金有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明公开了一种新冠病毒快速检测装置，包括真空检测室，所述真空检测室内设置有轨道、载片传送机构、图像放大显示机构和图像识别系统，该新冠病毒快速检测装置采用物理检测方法，利用散射的电子束照射病毒、细菌，投射到荧光屏上，实现对病毒、细菌的高倍物理放大，然后配合图像识别系统，根据病毒、细菌的固有特征进行确认识别，能够实现单个标本的检测并且结果即检即知，检测效果迅速且准确；该新冠病毒快速检测装置自动化程度较高，能有效减少检测人员的感染几率。
一种病毒快速检测装置方法

[发明专利]一种消除原子热振动效应的微观成像方法及装置-CN202310463343.0在审
发明人：于荣;杨文峰;沙浩治;崔吉哲 -专利权人：清华大学
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本申请涉及一种消除原子热振动效应的微观成像方法及装置。所述方法包括：在第i轮成像过程中通过电子束对待测样品进行扫描，并采集各扫描区域的衍射强度矩阵；分别获取待测样品各待测层的透射函数集合；针对任一扫描区域和任一原子热振动状态，根据各待测层的透射函数，以及扫描区域的电子束函数，构建扫描区域对应的出射波函数；根据各扫描区域在各原子热振动状态下的出射波函数、及各扫描区域的衍射强度矩阵，确定第i轮成像过程的损失函数值；在损失函数值大于损失阈值的情况下，调整各透射函数的参数，并进入第i+1轮成像过程；在损失函数值小于或者等于损失阈值的情况下，根据各透射函数得到待测样品的微观图像。采用本方法能够提高成像精度。
一种消除原子振动效应微观成像方法装置

[发明专利]一种具有自动调焦功能的差分高能电子衍射系统及方法-CN202010939036.1有效
发明人：赵崇凌;张宁;袁方 -专利权人：中国科学院沈阳科学仪器股份有限公司
申请日： 2020-09-09 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明涉及电路技术领域，具体说是一种具有自动调焦功能的差分高能电子衍射系统及方法。包括PC机、高能电源箱、以及安装在真空腔室腔壁上的高能电子枪、荧光屏、样品台和CCD相机；PC机输出端与高能电源箱连接，输入端与CCD相机连接，接收CCD相机采集在荧光屏上的衍射图像，并得到控制输入电压传输至高能电源箱，实时接收高能电子枪的控制输出电压；高能电源箱接收的控制输入电压对高能电子枪进行调整聚焦；高能电子枪接收到高能电源箱传输的调整的控制输出电压，并发送电子束至样品台上；本发明将采集的图像数据作为控制输入、通过获取控制电压输出、形成闭环控制，自动调节衍射图像的质量，避免了手动调节带来的误差，并降低了设备操作的复杂性。
一种具有自动调焦功能高能电子衍射系统方法

[发明专利]一种超紧凑型飞秒电子衍射装置-CN201710764232.8有效
发明人：罗端;田进寿;惠丹丹;王兴;温文龙;卢裕 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2017-08-30 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明涉及电子衍射技术领域，针对现有超快电子衍射装置难以突破100飞秒级时间分辨的技术问题，提供一种超紧凑型飞秒电子衍射装置，包括飞秒激光源、分束镜、三倍频装置、光学延迟线、真空腔室、飞秒电子枪、图像增强模块和图像采集系统；飞秒电子枪和图像增强模块沿紫外激光脉冲出射的方向依次设置于真空腔室内；图像采集系统设置在真空腔室的外部且正对图像增强模块；飞秒电子枪包括阴极和与阴极平行相对设置的阳极；阳极包括阳极电极和样品支撑网；阳极电极的中心开设完全贯穿阳极电极的中心阶梯孔，中心阶梯孔的大孔位于远离阴极的阳极表面；样品支撑网固定安装在中心阶梯孔内。
一种紧凑型电子衍射装置

[发明专利]基于超快透射电镜系统获取时间分辨暗场像的方法及应用-CN201910438469.6有效
发明人：王志伟;李德帅;请求不公布姓名 -专利权人：北京纳米能源与系统研究所
申请日： 2019-05-24 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：一种基于超快透射电镜系统获取高衬度超快时间分辨暗场像的方法及应用。通过采用高汇聚角入射束成像，采用大尺寸物镜光阑，以衍射电子作为信号进行成像，获得超快尺度下的时间分辨暗场像，相对于超快透射电镜明场像，具有相反衬度的暗场像减少了背底信号，由于高汇聚角和大尺寸物镜光阑的结合使用，并通过双束衍射、暗场像的优化调节，从而提高采集信号的信噪比，相对于衍射模式信号能更直接地观察样品内部不同区域的变化过程，具有高空间分辨率，拓展了超快电镜暗场方式表征样品的范围，可以分析纳米颗粒受激光激发后的衬度变化细节，并且能应用于超快时间尺度内材料不同晶格取向的点阵结构弛豫和共振动力学过程的表征分析。
基于透射系统获取时间分辨暗场方法应用

[发明专利]基于EBSD技术的镁合金拉伸孪晶体积分数的计算方法-CN202010504113.0有效
发明人：吴懿萍;熊汉青;谢邵辉 -专利权人：长沙学院
申请日： 2020-06-05 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于EBSD技术的镁合金拉伸孪晶体积分数的计算方法，根据晶界取向变化标示出拉伸孪晶晶界而获得所有发生拉伸孪晶的完整晶粒，再进行符合规定方向要求的晶粒的选取以及去除杂质处理来获得完全符合规定方向要求的晶粒，完全符合规定方向要求的晶粒中包括孪生部分和未发生孪生部分，将未发生孪生部分分离出，再对孪生部分进行拉伸孪晶体积分数的计算，排除了人为误差对计算精度产生的影响；该计算方法通过晶粒EBSD背散射衍射图和反极图能够更为准确地标定出样品中的拉伸孪晶，从而能够获得准确度更高的拉伸孪晶体积分数。
基于 ebsd 技术镁合金拉伸晶体积分计算方法

[发明专利]一种提高微晶电子衍射数据质量的方法-CN202211692618.X在审
发明人：李子依;王彤彤;刘雪涛;刘翔 -专利权人：深圳晶泰科技有限公司
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本申请提供一种提高微晶电子衍射数据质量的方法，包括：当确认未能解析出目标样品的结构时，获取目标样品的衍射数据的最高分辨率和/或目标样品的耐受度；当目标样品的衍射数据的最高分辨率和/或目标样品的耐受度满足预设条件时，对目标样品进行处理，得到处理后的目标样品；采用微晶电子衍射方法解析所述处理后的目标样品的结构；其中，所述当所述目标样品满足预设条件时，对目标样品进行处理，包括：当目标样品的衍射数据的最高分辨率大于预设分辨率时，采用以下至少一种方法提高目标样品的衍射数据的分辨率：溶剂包裹法、聚焦离子束法、样品优化法；和/或，当目标样品的耐受度小于等于预设耐受度时，采用镀膜法提高目标样品的耐受度。
一种提高电子衍射数据质量方法

[发明专利]一种原位研究二维材料低温晶体结构的装置及方法-CN202110744044.5有效
发明人：吕文来;陈飞;冯振杰;葛军饴;张金仓 -专利权人：上海大学
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明提供了一种原位研究二维材料低温晶体结构的装置及方法。包括低温控制系统、RHEED系统、衬底台、衬底台升降器、中空Z轴驱动器、真空系统。通过调节衬底台与换热装置的相对距离在低温和高温两种工作模式间进行切换。低温工作模式：衬底台背面和换热装置底端完全接触，适于二维材料的低温晶体结构测试和低熔点金属薄膜制备；高温工作模式：换热装置远离衬底台，高真空环境保证了极小的气体对流漏热。本发明在RHEED系统中集成低温控制系统，为二维材料的晶体结构测试提供了低温环境。其中，本发明的有益效果是：结构简单，操作方便，适合原位二维材料的低温晶体结构分析且不破坏样品结构。
一种原位研究二维材料低温晶体结构装置方法

[发明专利]一种利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法及其应用-CN202211715321.0在审
发明人：马延航;王俪锦 -专利权人：上海科技大学
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明涉及一种利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法及其应用，包括以下步骤：获取正带轴选区电子衍射图、偏离正带轴选区电子衍射图、软件模拟电子衍射图和动力学模拟电子衍射花样强度图；正带轴选区电子衍射图和偏离正带轴选区电子衍射图叠加，获得实验重构电子衍射图；比较软件模拟电子衍射图和实验重构电子衍射图，从而确定待测晶体的实验重构电子衍射图的绝对方向；提取正带轴选区电子衍射图中电子衍射点的积分强度，获得实验电子衍射花样强度图；分别比较动力学模拟电子衍射花样强度图和实验电子衍射花样强度图的匹配度，从而确定待测晶体分子的绝对构型。克服单张选区电子衍射的晶带轴方向不确定性难题。
一种利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构方法及其应用

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