[发明专利]基于深度学习PCB缺陷两阶段检测方法在审

专利信息
申请号: 202211512210.X 申请日: 2022-11-29
公开(公告)号: CN115965583A 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 罗贵明;黄正跃 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/774;G06V10/82;G06V10/764;G06V10/80;G06T7/73
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 高梦梦
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 深度 学习 pcb 缺陷 阶段 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于深度学习PCB缺陷两阶段检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取PCB标准板图片和PCB待测板图片;

参考所述PCB标准板图片,构建检测所述PCB待测板缺陷的PCB缺陷检测浅层神经网络;

基于所述PCB缺陷检测浅层神经网络,进行所述PCB待测板的缺陷特征提取、特征融合、PCB板特征的掩模,对所述PCB待测板的缺陷进行初步检测、分类和回归;

基于所述PCB待测板图片的缺陷,利用预先构建的浅层分类和分级网络对所述PCB待测板的缺陷进行分类和分级,生成所述PCB待测板缺陷的初步检测结果;

构建检测所述PCB待测板缺陷的PCB缺陷检测深层神经网络,基于所述PCB缺陷检测浅层神经网络初步检测的所述PCB待测板图片缺陷,学习和强化弱的特征,消除模型对部分视图信息的过拟合,融合特征提取,精化PCB待测板缺陷的分类与分级,生成所述PCB待测板缺陷检测的最终结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,构建检测所述PCB待测板缺陷的浅层神经网络,基于所述浅层神经网络,进行所述PCB待测板的缺陷特征提取、特征融合、PCB板特征的掩模,对所述PCB待测板的缺陷进行初步检测、分类和回归,包括:

对所述PCB标准板图片和所述PCB待测板图片进行预处理,得到处理后的PCB标准板图片和PCB待测板图片;

对CNN网络和FPN网络进行剪枝优化,利用优化的浅层CNN网络和浅层FPN网络,在不同层级进行预测,得到所述处理后的PCB标准板图片和PCB待测板图片的多尺度的缺陷检测框;

基于所述处理后的PCB标准板图片和PCB待测板图片,经过网络卷积后,得到标准板特征图与待测板特征图并进行比较,提取网络学习特征差异信息;

根据所述网络学习特征差异信息、PCB板的视觉信息融合得到PCB融合特征;

利用CGA将所述待测板特征图与所述标准板特征图进行通道拼接,对拼接的特征图分组融合,再进行分组多层卷积,输出注意力掩膜;

将所述CGA与所述注意力掩膜前特征交互,加入特征残差信息部分,输出掩膜后特征;

利用PCB缺陷标注系统,对PCB图像分割,缺陷进行框选、收集,并按照国际PCB板分类和分级原则对PCB板缺陷的类型和级别进行标记,构建PCB缺陷特征库;

利用PCB板特征掩膜模块和CNN分类分支模块,构建浅层PCB板缺陷分类网络;

利用PCB板特征掩膜模块和CNN回归分支模块,构建浅层PCB板缺陷回归网络;

利用PCB板特征融合掩膜模块和NCC差异修正模块,对特定的点与区域进行归一化互相关,计算出所述待测PCB板图像缺陷特征在模板图内的最大响应,输出异常注意力掩码;

利用所述浅层PCB板缺陷分类网络和所述PCB缺陷特征库,初步识别所述待测PCB板图片中缺陷的类型;

利用CNN分类分支模块、Center-ness模块和HCL模块,增强前景和背景区域特征,改进缺陷稀疏分布且目标特征不明显的PCB检测,提升网络对前景和背景区域的置信度区分度;

利用所述浅层PCB板缺陷回归网络、所述Center-ness模块和所述HCL模块,预测所述待测PCB板的缺陷中心,并确定所述待测PCB板的缺陷的框及位置;

利用所述PCB缺陷分类模块与所述HCL模块交互,然后与所述缺陷回归框模块信息融合;

利用非最大值抑制模块和所述NCC差异修正模块交互,过滤PCB缺陷的冗余检测框,给出待测PCB板缺陷的疑似预判,确定所述PCB待测板图片在第一阶段网络检测的缺陷。

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