[发明专利]基于半导体封装的深孔加工工艺方法在审

专利信息
申请号: 202210254633.X 申请日: 2022-03-16
公开(公告)号: CN114361045A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 张光耀;谭小春 申请(专利权)人: 合肥矽迈微电子科技有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L21/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 基于 半导体 封装 加工 工艺 方法
【权利要求书】:

1.基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,提供一基板(10),将需要塑封的各元器件(20)贴装到所述基板(10)上,在基板(10)上贴装导电块(30),所述导电块(30)与所述元器件(20)均处于所述基板(10)的同一侧;

将需要塑封的各所述元器件(20)、导电块(30)进行塑封,形成塑封体(40);

在所述塑封体(40)上的位于所述导电块(30)的位置,进行深孔加工,形成深孔(50),直到暴露所述导电块(30);

在深孔(50)中进行电镀,形成具有电性连接的导电层;

进行后续常规半导体封装工艺。

2.根据权利要求1所述的基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,所述导电块(30)为无源金属块。

3.根据权利要求1所述的基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,所述导电块(30)为可导电树脂。

4.根据权利要求1所述的基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,在所述塑封体(40)上的位于所述导电块(30)的位置,通过激光钻孔或者蚀刻的方式进行深孔加工。

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