[发明专利]基于半导体封装的深孔加工工艺方法在审
申请号: | 202210254633.X | 申请日: | 2022-03-16 |
公开(公告)号: | CN114361045A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 张光耀;谭小春 | 申请(专利权)人: | 合肥矽迈微电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/56 |
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地址: | 230088 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 半导体 封装 加工 工艺 方法 | ||
1.基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,提供一基板(10),将需要塑封的各元器件(20)贴装到所述基板(10)上,在基板(10)上贴装导电块(30),所述导电块(30)与所述元器件(20)均处于所述基板(10)的同一侧;
将需要塑封的各所述元器件(20)、导电块(30)进行塑封,形成塑封体(40);
在所述塑封体(40)上的位于所述导电块(30)的位置,进行深孔加工,形成深孔(50),直到暴露所述导电块(30);
在深孔(50)中进行电镀,形成具有电性连接的导电层;
进行后续常规半导体封装工艺。
2.根据权利要求1所述的基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,所述导电块(30)为无源金属块。
3.根据权利要求1所述的基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,所述导电块(30)为可导电树脂。
4.根据权利要求1所述的基于半导体封装的深孔加工工艺方法,其特征在于,在所述塑封体(40)上的位于所述导电块(30)的位置,通过激光钻孔或者蚀刻的方式进行深孔加工。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造