[实用新型]一种半导体芯片塑封装置有效
| 申请号: | 202121046050.5 | 申请日: | 2021-05-14 |
| 公开(公告)号: | CN214753654U | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
| 发明(设计)人: | 张先兵;徐林;张锋;张传喜;查从进;章立超;李朱根 | 申请(专利权)人: | 铜陵中锐电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 何静 |
| 地址: | 244000*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 塑封 装置 | ||
本实用新型公开一种半导体芯片塑封装置,塑封装置包括底板,所述底板上设有固定板,固定板上设有阵列分布的下模具组件,下模具组件包括下模具,下模具内设有均安装槽,下模具上设有密封垫固定板上方设有填料组件,填料组件包括升降架,升降架内设有滑动的入料架,升降架下设有阵列分布的上模具组件,上模具组件包括上模具,上模具上设有投料通孔,投料通孔四周设有加热线圈,升降架上方设有压合组件。本实用新型结构简单可靠、功能实用稳定,芯片固定塑封效果好,加热线圈能够快速加热投料通孔内的塑封料,从而使塑封料与芯片更好贴合塑封,压缩活塞下降压紧,从而使塑封料完全充满安装槽,进一步防止塑封不完全。
技术领域
本实用新型涉及芯片塑封技术领域,具体是一种半导体芯片塑封装置。
背景技术
安装半导体集成电路芯片用的外壳,起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁——芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上,这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。因此,封装对CPU和其他LSI集成电路都起着重要的作用;封装按材料的划分,分为金属封装、陶瓷封装和塑封。市面上常用的高密度芯片封装大都采用塑封,塑封又分为许多种,其中DI P是常用的封住,主要包括芯片粘接、银浆固化、引线焊接、注塑、激光打字、模后固化、电镀、切筋成型和光检等过程,一般引线焊接后紧接着就是注塑,而在注塑时,整体塑封装置运行的自动化程度,会直接影响到生产效率。针对这种情况,现提出一种半导体芯片塑封装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体芯片塑封装置,能够有效解决上述问题,本实用新型结构简单可靠、功能实用稳定,芯片固定塑封效果好,加热线圈能够快速加热投料通孔内的塑封料,从而使塑封料与芯片更好贴合塑封,压缩活塞下降压紧,从而使塑封料完全充满安装槽,进一步防止塑封不完全。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现:
一种半导体芯片塑封装置,塑封装置包括底板,所述底板上设有固定板,固定板上设有阵列分布的下模具组件,下模具组件包括下模具,下模具内设有均安装槽,下模具上设有密封垫固定板上方设有填料组件,填料组件包括升降架,升降架内设有滑动的入料架,升降架下设有阵列分布的上模具组件,上模具组件包括上模具,上模具上设有投料通孔,投料通孔四周设有加热线圈,升降架上方设有压合组件。
进一步地,所述固定板固定在底板上,固定板上设有阵列分布的第一安装槽。
进一步地,所述第一安装槽内均设有阵列分布的下模具组件,下模具固定在第一安装槽内,下模具上设有阵列分布的第一开孔和阵列分布的第一安装柱,密封垫上设有阵列分布的第二开孔和对称分布的第三开孔,第一开孔与第二开孔同心,第一安装柱穿过第三开孔。
进一步地,所述升降架内设有对称分布的滑动支撑板和阵列分布的第四开孔,升降架下设有阵列分布的第二安装槽,第二安装槽内均设有对称分布的卡柱,升降架一端设有第一气缸,第一气缸伸缩端设有入料架,入料架上设有阵列分布的入料管,第一气缸推动入料架在滑动支撑板上滑动;
所述升降架两侧均设有阵列分布的第二气缸,第二气缸尾端固定在底板上,第二气缸伸缩端与升降架固定连接,第二气缸推动升降架升降。
进一步地,所述上模具四周均设有卡槽,上模具安装在第二安装槽内,卡柱固定在卡槽内,上模具下设有阵列分布的第二安装柱和对称分布的第五开孔,加热线圈对投料通孔加热。
进一步地,所述压合组件包括压合架,压合架两侧均设有阵列分布的第三气缸,第三气缸伸缩端与压合架固定连接,压合架尾端固定在升降架上,压合架下设有阵列分布的压缩活塞,压缩活塞与投料通孔同心。
本实用新型的有益效果:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





