[发明专利]一种半导体芯片模板转移装置在审
申请号: | 202110673674.8 | 申请日: | 2021-06-17 |
公开(公告)号: | CN113436993A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 符建志 | 申请(专利权)人: | 四川熙隆半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 | 代理人: | 曹宇杰 |
地址: | 629200 四川省遂*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 模板 转移 装置 | ||
本发明公开了一种半导体芯片模板转移装置,包括方向检测机构、转移夹具、承载机构。方向检测机构包括两个L型架、阻挡结构和感应结构,半导体芯片模板与L型架滑动配合,阻挡结构位于两个L型架一端,阻挡结构包括涡轮、蜗杆、第一旋转电机和挡停板,感应结构包括由第一升降装置控制的横杆及触点,横杆一端底部设有限位块,另一端顶部设有感应杆,触点设于其中一个L型架顶部;转移夹具包括旋转电机、第二升降装置及第一伸缩装置,第一伸缩装置的一端设有夹持结构,夹持结构包括两个夹板和第二伸缩装置;承载机构包括两个平板架和两个传送带,平板架顶部设有挡板。控制半导体芯片模板的移动距离,减少半导体芯片在对位过程中的误差。
技术领域
本发明涉及芯片制备技术领域,尤其涉及一种半导体芯片模板转移装置。
背景技术
半导体芯片的巨量转移是芯片制作过程的一个难点,先将半导体芯片阵列于原基板,然后通过将半导体芯片的原基板与目标基板相贴合,再将原基板剥离,使半导体芯片转移到目标基板上,采取上述芯片转移法要求原基板与目标基板尺寸相同,原基板与目标基板上的芯片矩阵间距也要一致,由于半导体芯片非常细小,对其进行巨量转移要求非常高的效率和转移精度,即使对位过程只发生细微的差错,也会极大的影响产品的良品率。
发明内容
为解决现有技术不足,本发明提供一种半导体芯片模板转移装置,通过多个感应部件的配合,来控制半导体芯片模板的移动距离,减少半导体芯片在对位过程中的误差,同时还要挑出不合格的半导体芯片模板。
为了实现本发明的目的,拟采用以下方案:
一种半导体芯片模板转移装置,半导体芯片模板顶部设有限位槽,底部设有T形板,转移装置包括方向检测机构、转移夹具、承载机构。
方向检测机构包括两个L型架、阻挡结构和感应结构,两个L型架的间距根据半导体芯片模板设置,半导体芯片模板与L型架滑动配合,阻挡结构位于两个L型架一端,阻挡结构包括涡轮、蜗杆、第一旋转电机和与涡轮同轴转动的挡停板,蜗杆设于第一旋转电机的顶部,通过涡轮和蜗杆的配合,挡停板用于挡停半导体芯片模板,感应结构包括由第一升降装置控制的横杆及触点,横杆一端底部设有限位块,限位块与限位槽匹配,另一端顶部设有感应杆,触点设于其中一个L型架顶部,感应杆位于触点的正上方;
转移夹具从下到上依次包括第二旋转电机、第二升降装置及第一伸缩装置,第一伸缩装置的一端设有夹持结构,夹持结构包括两个夹板和用于调节夹板间距的第二伸缩装置,夹持结构用于夹持T形板;
承载机构设置方向与L型架相互垂直,承载机构包括两个平板架和两个传送带,平板架和传送带分别位于转移夹具的两侧,平板架顶部设有挡板,两个挡板的间距根据半导体芯片模板设置。
进一步的,第一升降装置设于门形框架内,门形框架包括水平杆和两个竖直杆,竖直杆分别设于两个L型架外侧,其中一个竖直杆的下段设有竖条形贯穿槽,上段设有贯穿孔,感应杆一端连接横杆,另一端设于竖条形贯穿槽内,且感应杆与竖条形贯穿槽滑动配合,水平杆设于贯穿孔内,且水平杆与贯穿孔滑动配合。
进一步的,其中一个L型架的外侧设有第三伸缩装置、若干水平滑杆,水平滑杆用于引导L型架水平移动。
进一步的,每个挡板的外侧设有第四伸缩装置,底部设有凸耳,每个平板架顶部设有滑槽,凸耳设于滑槽内,凸耳与滑槽滑动配合。
进一步的,涡轮设于其中一个L型架,挡停板一端与涡轮同轴转动,另一端设为自由端,另一个L型架一端设有卡槽,自由端设置于卡槽内。
进一步的,感应杆和横杆的垂直距离等于限位块的厚度。
进一步的,T形板的竖段设置为不规则形,竖段形状与夹板的夹持部相匹配。
进一步的,两个传送带的间距大于T形板,且小于半导体芯片模板。
本发明的有益效果在于:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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