[发明专利]一种超高真空系统下的制冷型NEA GaN电子源组件结构在审
申请号: | 202110635030.X | 申请日: | 2021-06-08 |
公开(公告)号: | CN113488443A | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 王晓晖;张依辰;全卓艺;李嘉璐 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L23/38 | 分类号: | H01L23/38;H01L35/28;H01L35/34 |
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地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超高 真空 系统 制冷 nea gan 电子 组件 结构 | ||
本发明提供一种超高真空系统下的制冷型NEA GaN电子源组件结构,所述结构由NEA GaN电子源,半导体制冷片,控制系统,温度反馈组件(热电偶)组成;所述控制系统通过导线连接半导体制冷片,并且使用法兰和铜垫圈加以密封;所述半导体制冷片通过铟焊与NEA GaN电子源相连,铟焊在超高真空中能增加半导体晶片和GaN材料之间的热传导;所述热电偶贴合在NEA GaN电子源上;所述NEA GaN电子源与半导体制冷片和热电偶相连接。本结构通过半导体片制冷可使工作在超高真空系统下的NEA GaN电子源温度不至于过高,有效地提高了NEA GaN电子源的使用寿命。
技术领域
本发明涉及一种组件结构,具体涉及一种超高真空系统下的制冷型NEA GaN电子源组件结构。
背景技术
光阴极由激光控制,可以产生超短、高峰值亮度、低发射度的高品质电子束,相比传统的热发射和场致发射电子源,光阴极是非常理想的电子源。III-V族半导体材料拥有直接禁带能级、光吸收率高、电子扩散长度大、可获得负电子亲和势(Negative ElectronAffinity,NEA)表面等特性,是作为光阴极的良好材料。
目前实用的NEA光电阴极,在可见光波段利用的是闪锌矿GaAs材料,研制的NEAGaAs光电阴极已经应用在微光像增强器和EBAPS(电子轰击有源像素传感器)中,然而,自1970s至今,经过半个世纪的研究与实践,NEA GaAs光阴极的性能已经接近其极限,很难进一步提高其量子效率和寿命。
GaN作为第三代半导体材料,具有耐腐蚀、耐高温、抗辐射等优良特性,且具有电离度高,带宽度大、击穿电场强度高、饱和电子漂移速度高、热导率大、介电常数小、抗辐射能力强以及良好的化学稳定性等特点。NEA GaN光阴极具有量子效率高、暗发射小、物理化学性质稳定、发射电子能量分布集中等优点,是高性能的紫外光阴极。
III-V族半导体电子源运行时的激光光照功率密度高,在较小空间内产生热量,形成较高热通量,而温度过高会破坏表面的Cs/O激活层,甚至会对体材料造成损坏,大大降低其使用寿命。
珀耳帖效应是指当有电流通过不同的导体组成的回路时,除产生不可逆的焦耳热外,在不同导体的接头处随着电流方向的不同会分别出现吸热、放热现象。基于珀耳帖效应可以进行半导体制冷,当一块N型半导体材料和一块P型半导体材料联结成的热电偶对中有电流通过时,两端之间就会产生热量转移,热量就会从一端转移到另一端,从而产生温差形成冷热端。
发明内容
为了在一定程度上克服相关技术中存在的问题,即NEA GaN电子源运行时温度过高易损坏Cs/O激活层和GaN体材料,本申请提供一种超高真空系统下的制冷型NEA GaN电子源组件结构,通过半导体制冷的方式降低NEA GaN电子源工作时的温度,保护表面的Cs/O激活层和GaN体材料,提高其使用寿命。
本发明的内容是采用以下技术方案实现的:
一种超高真空系统下的制冷型NEA GaN电子源组件结构,其改进之处在于,所述装置包括NEA GaN电子源,半导体制冷片,控制系统,温度反馈组件(热电偶);所述控制系统通过导线连接半导体制冷片,并且使用法兰和铜垫圈加以密封;所述半导体片通过铟焊与NEAGaN电子源相连,在超高真空中能增加半导体晶片和GaN材料之间的热传导;所述热电偶贴合在NEA GaN电子源上;所述NEA GaN电子源与半导体制冷片和热电偶相连接。
进一步地,所述半导体制冷片吸热使温度下降。
进一步地,所述NEA GaN电子源上铟焊了半导体制冷片和热电偶。
进一步地,所述热电偶通过锡铅焊与NEA GaN电子源贴合连接。
进一步地,所述控制系统通过导线与半导体制冷片相连,改变电流大小来控制半导体制冷片。
进一步地,所述装置工作功率范围为5W至100W。
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