专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种实时控制NEA GaN电子源反射率的方法-CN202210449439.7有效
  • 李嘉璐;王晓晖;张依辰;全卓艺 - 电子科技大学
  • 2022-04-24 - 2023-05-19 - H01J9/12
  • 本发明提供一种实时控制NEAGaN电子源反射率的方法。具体方法为:建立反射率随温度变化的公式以及NEAGaN电子源反射率实时可变的模型;确定目标反射率R和工作时的入射光波长λ和初始偏离值s;获取工作温度T0以及当前NEAGaN电子源的反射率R0;将目标参数输入到温度校准模型,计算输出目标温度T1;获取温度为T1时NEAGaN电子源的反射率R1并计算偏离度s1,若s1小于偏离值s,输出温度T=T1,若s1大于偏离值s,则根据T1、R1进行下一次修正,再次计算得到温度T2与偏离度,并与设定值进行比较。根据如上步骤校准温度,直至sn小于偏离值s,最终输出目标R对应的最优温度T。本发明通过温度控制NEAGaN电子源反射率,具有自校准的功能,且控制灵活,启动快,可靠性高,可以精确实现实时自动控制NEAGaN电子源反射率的需求,进而提高稳定性。
  • 一种实时控制neagan电子反射率方法
  • [发明专利]一种实时控制NEA GaN电子源扩散长度的方法-CN202210449464.5有效
  • 张依辰;王晓晖;全卓艺;李嘉璐 - 电子科技大学
  • 2022-04-24 - 2023-05-12 - H01J9/12
  • 本发明提供一种实时控制NEAGaN电子源扩散长度的方法,具体为:建立一个目标扩散长度与温度相对应,通过改变温度实现扩散长度实时可变的模型。输入目标偏离值s、目标扩散长度L和标定需要的数据数量m;获取NEAGaN电子源当前的扩散长度L0,所处环境的温度T0,然后在此温度下多次测量获得m组扩散长度数据,将上述m组数据代入模型公式中,拟合得到常数μ0和τ0,将标定好的常数以及目标扩散长度L代入模型公式中,计算得到温度T1;设定NEAGaN电子源温度为T1,测量其实际扩散长度L1并计算偏离值s1,若s1小于s,则输出温度T=T1,反之,则根据T1和L1继续标定μ1和τ1,计算温度T2,测量T2下的L2,比较偏离值s2和s。循环往复,直至sn小于s,输出对应L的最佳温度T=Tn,达到实时控制扩散长度的目的。与现有的方法相比,该方法能够使NEAGaN电子源实际扩散长度值与目标值不断接近,最终满足不同情况下的扩散长度要求,具有自校准功能和灵活可变,操作简单,控制稳定的特点。
  • 一种实时控制neagan电子扩散长度方法
  • [发明专利]一种实时控制NEA GaN光阴极电子逸出几率的方法-CN202210449467.9在审
  • 全卓艺;王晓晖;李嘉璐;张依辰 - 电子科技大学
  • 2022-04-24 - 2022-09-06 - G16C60/00
  • 本发明提供一种实时控制NEAGaN光阴极电子逸出几率的方法,具体为:建立温度校准的公式模型;获取样品的波长λ、掺杂浓度nA和温度T0,多次测量T0条件下的电子逸出几率P0,根据数据拟合样品参数;将样品参数和目标电子逸出几率P代入所述公式模型,计算输出温度T1;测量T1条件下的电子逸出几率P1,并判断P1的偏离度s1是否小于设定值,若小于设定值则输出温度T=T1,若不小于设定值则在T1条件下根据P1再次拟合样品参数;根据新样品参数和P再次计算输出温度T2;测量T2条件下的电子逸出几率P2并比较偏离度s2和设定值;循环上述步骤,直到偏离度sn小于设定值,循环结束,输出对应P的最佳温度T=Tn。本发明通过自校准温度的方法可以实现对NEAGaN光阴极电子逸出几率的实时精确控制,具有提高其量子效率、稳定性等性能参数,提升NEAGaN光阴极工作性能的优势。
  • 一种实时控制neagan阴极电子几率方法
  • [发明专利]一种提高NEA GaN电子源使用寿命的方法及装置-CN202110634939.3有效
  • 王晓晖;全卓艺;李嘉璐;张依辰 - 电子科技大学
  • 2021-06-08 - 2022-06-28 - H01J1/34
  • 本发明提供一种能够提高NEA GaN电子源使用寿命的方法及装置。所述装置包括热电偶、温控仪、环形螺旋状管道、低温液体罐、安全阀、低温液体通道、低温控制阀、法兰、样品托。所述热电偶安装在样品托背面检测其温度变化,通过导线连接温控仪,所述温控仪与低温控制阀连接并向低温控制阀输送反馈电信号,所述低温控制阀通过控制低温液体的流速来达到温控效果,所述低温液体通道连接低温液体罐和环形螺旋状管道并向环形螺旋状管道输送低温液体,所述环形螺旋状管道呈圆周状紧密贴于样品托背面,在超高真空条件下铟焊连接所述样品托和GaN阴极材料。本发明有效地增大GaN电子源和样品托之间的热导率,延缓GaN电子源的温升速率从而使其工作寿命得到明显提高。
  • 一种提高neagan电子使用寿命方法装置

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