[实用新型]一种用于半导体封装测试用的工装夹具有效
| 申请号: | 202023046263.6 | 申请日: | 2020-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN213936157U | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
| 发明(设计)人: | 严维新;荣春华;曹庚才;许保花 | 申请(专利权)人: | 西安科恩特精密机械有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;H01L21/66 |
| 代理公司: | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人: | 张恒阳 |
| 地址: | 710065 陕西省西安市高新*** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 半导体 封装 测试 工装 夹具 | ||
1.一种用于半导体封装测试用的工装夹具,包括底板(1),其特征在于,所述底板(1)的上表面四个侧边分别固定设置有支撑板(2),四个所述支撑板(2)的上端共同固定设置有顶板(3),所述顶板(3)的内部环绕开设有四个条形口,左侧所述支撑板(2)的左侧壁固定设置有电机(4),所述底板(1)和顶板(3)固定设置有第一驱动机构和第二驱动机构,所述第一驱动机构和第二驱动机构之间啮合连接,所述第一驱动机构和第二驱动机构分别固定连接有第一卡接机构和第二卡接机构,所述第一驱动机构与电机(4)的输出端固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体封装测试用的工装夹具,其特征在于,所述第一驱动机构包括蜗杆(5)和两个普通丝杆(6),两个所述普通丝杆(6)对称固定设置于蜗杆(5)的两端,且相背的一端杆壁分别通过第一轴承与对应的支撑板(2)转动连接,左侧所述普通丝杆(6)的左端贯穿左侧的支撑板(2)并与电机(4)的输出端固定连接,两个所述普通丝杆(6)的杆壁分别螺纹连接有第一滑块(7),每个所述第一滑块(7)的上表面分别固定设置有第一T形杆(8)。
3.根据权利要求1所述的一种用于半导体封装测试用的工装夹具,其特征在于,所述第二驱动机构包括蜗轮(9)和双向丝杆(10),所述蜗轮(9)的内部开设有通孔且与双向丝杆(10)的中部杆壁固定套接,所述蜗轮(9)与蜗杆(5)之间啮合连接,所述双向丝杆(10)的两端杆壁分别通过第二轴承与对应的支撑板(2)的侧壁转动连接,所述双向丝杆(10)的两端杆壁对称螺纹连接有第二滑块(11),每个所述第二滑块(11)的上表面分别固定设置有第二T形杆(12)。
4.根据权利要求2所述的一种用于半导体封装测试用的工装夹具,其特征在于,所述第一卡接机构包括两个第一伸缩杆(13)和两个第一弹簧(14),两个所述第一T形杆(8)的上端分别通过对应的条形口向上延伸,且与对应的第一伸缩杆(13)固定连接,两个所述第一伸缩杆(13)靠近的一端分别固定连接有第一卡板(15),两个所述第一弹簧(14)分别与对应的第一伸缩杆(13)活动套接,且两端分别与对应的第一T形杆(8)以及对应的第一卡板(15)固定连接。
5.根据权利要求3所述的一种用于半导体封装测试用的工装夹具,其特征在于,所述第二卡接机构包括两个第二伸缩杆(16)和两个第二弹簧(17),两个所述第二T形杆(12)的上端分别通过对应的条形口向上延伸,且与对应的第二伸缩杆(16)固定连接,两个所述第二伸缩杆(16)靠近的一端分别固定连接有第二卡板(18),两个所述第二弹簧(17)分别与对应的第二伸缩杆(16)活动套接,且两端分别与对应的第二T形杆(12)以及对应的第二卡板(18)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体封装测试用的工装夹具,其特征在于,所述底板(1)的两侧对称固定设置有安装块(19)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安科恩特精密机械有限公司,未经西安科恩特精密机械有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202023046263.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种带有磁编码的被测物、磁性识别装置及系统
- 下一篇:一种高精度静音滚珠丝杆
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





