[发明专利]芯片封装结构、芯片封装方法以及电子设备在审
| 申请号: | 202010361789.9 | 申请日: | 2020-04-30 | 
| 公开(公告)号: | CN111430319A | 公开(公告)日: | 2020-07-17 | 
| 发明(设计)人: | 殷昌荣 | 申请(专利权)人: | 上海艾为电子技术股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/488;H01L23/495;H01L23/31;H01L23/367;H01L21/50;H01L21/56;H01L21/48 | 
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 姚璐华 | 
| 地址: | 201199 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 芯片 封装 结构 方法 以及 电子设备 | ||
1.一种芯片封装结构,其特征在于,所述芯片封装结构包括:
待封装芯片,所述待封装芯片具有相反的第一表面以及第二表面;所述待封装芯片的第一表面具有多个点阵排布的第一引脚;
金属框架,所述金属框架具有相反的第一表面以及第二表面;所述金属框架的第一表面具有多个与所述第一引脚电接触的接触区;所述金属框架的第二表面具有多个第二引脚,所述第二引脚用于连接外部电路;
塑封层,所述塑封层包围所述待封装芯片以及所述金属框架,且露出所述第二引脚的端面;所述第二引脚的端面覆盖有焊接球,用于与所述外部电路焊接固定。
2.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述第一引脚为金属柱;
所述金属柱为铜柱、银柱或是金柱。
3.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述第一引脚与所述接触区通过焊锡焊接固定;
和/或,所述第二引脚点阵排布。
4.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述待封装芯片的第一表面具有M×N个所述第一引脚,M和N均为大于1的正整数。
5.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述焊接球由所述第二引脚端面的平坦锡层回流焊形成。
6.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述金属框架是图形化的金属板,所述金属板具有刻蚀镂空区,以形成多个所述接触区,所述金属板的一个表面具有刻蚀凹槽,以形成多个所述第二引脚。
7.根据权利要求1-6任一项所述的芯片封装结构,其特征在于,所述第一引脚的间距为0.3mm-0.5mm。
8.一种芯片封装方法,其特征在于,所述芯片封装方法包括:
提供一待封装芯片,所述待封装芯片具有相反的第一表面以及第二表面;所述待封装芯片的第一表面具有多个点阵排布的第一引脚;
将所述待封装芯片与金属框架电连接固定,所述金属框架具有相反的第一表面以及第二表面;所述金属框架的第一表面具有多个与所述第一引脚电接触的接触区;所述金属框架的第二表面具有多个第二引脚,所述第二引脚用于连接外部电路;
通过塑封层对所述待封装芯片以及所述金属框架进行封装保护,所述塑封层包围所述待封装芯片以及所述金属框架,且露出所述第二引脚的端面;
在所述第二引脚的端面形成有焊接球,用于与所述外部电路焊接固定。
9.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,所述焊接球的形成方法包括:
在所述第二引脚的端面形成平坦锡层;
通过回流焊方式,锡融化再冷却所述平坦锡层,以形成所述焊接球。
10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
电路主板,所述电路主板具有焊接端子;
所述电路主板固定有如权利要求1-7任一项所述的芯片封装结构;所述封装结构中,第二引脚的端面具有焊接球;
所述焊接端子表面具有锡膏层, 所述 焊接球与所述焊接端子通过所述锡膏层焊接固定。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海艾为电子技术股份有限公司,未经上海艾为电子技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010361789.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种有机硅聚合物及其含有该有机硅聚合物的硅橡胶
- 下一篇:一种快拆式重锤





