[发明专利]电器及其高频阻抗的测试方法、装置

权利要求书

1.一种电器高频阻抗的测试方法，其特征在于，包括：

检测待测电器发射的原始信号；

检测原始信号单独通过第一级参考阻抗后的参考信号，其中，第一级参考阻抗包括多个并联且阻抗范围不同的阻抗元件，参考信号包括原始信号分别通过多个并联且阻抗范围不同的阻抗原件生成的多个输出信号；

根据原始信号和各个参考信号的差值推测待测电器的阻抗范围；

根据原始信号和各个参考信号的差值推测待测电器的阻抗范围包括：

比较原始信号和各个参考信号的差值，从中获取差值最小的参考信号；

根据差值最小的参考信号推测待测电器的阻抗范围。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，各级参考阻抗包括的阻抗元件之间的阻抗范围相互衔接。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

判断第一级参考阻抗推测的阻抗范围是否达到精度要求，如是，则结束测试；如否，则检测原始信号单独通过第二级参考阻抗后的参考信号，其中，第二级参考阻抗的阻抗范围在第一级参考阻抗推测的阻抗范围之内；以此类推，判断第N级参考阻抗推测的阻抗范围是否达到精度要求，如是，则结束测试，如否，则检测原始信号单独通过第N级参考阻抗后的参考信号，其中，第N级参考阻抗的阻抗范围在第N-1级参考阻抗推测的阻抗范围之内，N为大于1的自然数。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，各级参考阻抗包括的阻抗元件的数量为M^N个，其中，M为第一级参考阻抗包括的阻抗元件的数量，M为大于2的自然数；N为参考阻抗的级数。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，M和N均为3。

6.一种电器高频阻抗的测试装置，其特征在于，包括：

第一检测模块，用于检测待测电器发射的原始信号；

第二检测模块，用于检测原始信号单独通过第一级参考阻抗后的参考信号，其中，第一级参考阻抗包括多个并联且阻抗范围不同的阻抗元件，参考信号包括原始信号分别通过多个并联且阻抗范围不同的阻抗原件生成的多个输出信号；

推测模块，用于根据原始信号和各个参考信号的差值推测待测电器的阻抗范围；

推测模块包括比较模块和推测子模块：

比较模块，用于比较原始信号和各个参考信号的差值，从中获取差值最小的参考信号；

推测子模块，用于根据差值最小的参考信号推测待测电器的阻抗范围。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：

判断模块，用于判断第一级参考阻抗推测的阻抗范围是否达到精度要求，如是，则结束测试；如否，则检测原始信号单独通过第二级参考阻抗后的参考信号，其中，第二级参考阻抗的阻抗范围在第一级参考阻抗推测的阻抗范围之内；以此类推，判断第N级参考阻抗推测的阻抗范围是否达到精度要求，如是，则结束测试，如否，则检测原始信号单独通过第N级参考阻抗后的参考信号，其中，第N级参考阻抗的阻抗范围在第N-1级参考阻抗推测的阻抗范围之内，N为大于1的自然数。

8.一种电器，其特征在于，该电器采用权利要求1-5任一项所述的高频阻抗的测试方法。