专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种运放开环直流增益的测量方法及电路-CN202310871267.7在审
  • 请求不公布姓名 - 上海灵动微电子股份有限公司
  • 2023-07-17 - 2023-10-20 - G01R27/28
  • 本发明属于直流无刷电机控制技术领域,提供一种运放开环直流增益的测量方法及电路,测量电路包括:待测运放电路,所述待测运放电路包括待测运算放大器;辅助测量电路,所述辅助测量电路包括开关;其中,所述开关连接于所述待测运算放大器的输出端,所述待测运算放大器的正相输入端,并接入外部电压;所述开关断开时,测量所述待测运算放大器的正相输入端的第一电压;所述开关闭合时,测量所述待测运算放大器的正相输入端的第二电压;根据所述第一电压和所述第二电压的差值计算所述待测运算放大器的开环直流增益。
  • 一种开环直流增益测量方法电路
  • [发明专利]晶圆测试装置及其校准方法-CN202310768723.5在审
  • 唐彦波;林伟;杨程;吴伯平 - 长电科技管理有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-10-10 - G01R27/28
  • 本发明揭示了一种晶圆测试装置及其校准方法,所述晶圆测试装置校准方法包括:分别在第一同轴平面和第二同轴平面处执行校准;其中,所述第一同轴平面位于探针靠近同轴线缆一侧,所述第二同轴平面位于所述探针远离所述同轴线缆一侧;提取得到探针S参数和线缆S参数,并响应于测试项目的变化,利用所述探针S参数和所述线缆S参数至少其中之一,更新晶圆测试装置的配置。本发明提供的晶圆测试装置校准方法,能够避免诸如探针等部件或装置整体寿命缩短,使其能够适应不同测试需求来更新配置,避免装置损耗和反复校准。
  • 测试装置及其校准方法
  • [实用新型]基于矢量网络分析仪的增益-相位测试端口-CN202223252238.2有效
  • 郑兆祥 - 成都天大仪器股份有限公司
  • 2022-12-06 - 2023-09-26 - G01R27/28
  • 本实用新型公开了基于矢量网络分析仪的增益‑相位测试端口,包括参考路、测试路和低频输出端口,所述参考路和测试路通过第一阻抗与地连接,所述参考路和测试路分别通过各自的衰减器与对应的输入阻抗连接,所述低频输出端口通过开关与直流偏置源连接。与其他高端低频和射频网络分析仪相比,此网络分析仪增益相位测试端口在动态范围方面具有更好的性能。它的一个主要优势就是在较低的频率上也具有出色的动态范围,因此不仅适用于低频应用,还适用于更低的频率在5Hz~10MHz之间的应用。对存在分路信号路径的被测件进行高衰减测量,由于信号源和接收机之间的测试电缆地线环路会导致测量误差。
  • 基于矢量网络分析增益相位测试端口
  • [发明专利]跨阻放大器增益筛选测试的方法及电路-CN201710580784.3有效
  • 林少衡 - 厦门优迅高速芯片有限公司
  • 2017-07-17 - 2023-07-21 - G01R27/28
  • 本发明提供了一种跨阻放大器增益筛选测试的方法,包括跨阻放大器测试芯片;跨阻放大器测试芯片发送一个交流电流信号至待测跨阻放大器中,待测跨阻放大器输出交流电压信号至跨阻放大器测试芯片中转换得到一个直流电压信号输出,直流电压信号仅与跨阻放大器增益有关;跨阻放大器测试芯片输出的直流电压信号离散性即为待测跨阻放大器的增益离散性。根据上述方法,本发明还提供了一种跨阻放大器增益筛选测试的电路。应用本发明可以实现自动化检测生产,降低产品生产成本,有效地提高了产品的市场竞争力。
  • 放大器增益筛选测试方法电路
  • [发明专利]一种电感耦合式电缆散射参数测量方法-CN202310378987.X在审
  • 张刚;何鑫;王立欣;常开兴;韩卓伟;陈潇;于文博 - 哈尔滨工业大学
  • 2023-04-11 - 2023-07-04 - G01R27/28
  • 本发明公开了一种电感耦合式电缆散射参数测量方法,包括,对探头进行测量,获取第一散射参数矩阵,探头采用电感式探头,包括注入探头及接收探头;将第一散射参数矩阵变换为第一链参数矩阵;矢量网络分析仪通过探头对待测电缆进行非接触电感式耦合测量,得到第二散射参数矩阵;基于第二散射参数矩阵,得到第二链参数矩阵;根据第一链参数矩阵及第二链参数矩阵进行矩阵运算,得到第三链参数矩阵;对第三链参数矩阵进行变换,得到电缆散射参数矩阵。通过上述技术方案,对于不同种类的电缆无需进行阻抗匹配变换,可以极大降低电缆散射参数测量的操作难度与成本,同时提升分析设备的安全性。
  • 一种电感耦合电缆散射参数测量方法
  • [实用新型]一种基于六端口的散射参数测试系统-CN202221158760.1有效
  • 洪涛;彭舒 - 西华师范大学
  • 2022-05-13 - 2023-06-06 - G01R27/28
  • 本实用新型提供了一种基于六端口的散射参数测试系统,包括四个不同结构形式的定向耦合器,分别为第一定向耦合器、第二定向耦合器、第三定向耦合器和第四定向耦合器,定向耦合器的端口之间通过传输线连接,第一定向耦合器的直通端口作为输入端p1接收输入功率,第一定向耦合器的直通端口与第二定向耦合器的输入端连接;第二定向耦合器的直通端作为被测端口p2,第二定向耦合器的耦合端作为参考端口p4,第三定向耦合器的直通端作为参考端口p3,第四定向耦合器的直通端和耦合端分别作为参考端口p5和p6。本实用新型实现了通过四个元件,满足最佳测量精度的q值等幅和均匀120°等相位分布要求的六端口结构。
  • 一种基于端口散射参数测试系统
  • [发明专利]SAW滤波器件测试方法、装置及电子设备-CN202310310591.1在审
  • 倪维涛;蔡兆军;彭贝贝;钱天燚 - 天通瑞宏科技有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-05-30 - G01R27/28
  • 本发明公开一种SAW滤波器件测试方法、装置及电子设备,该方法包括:获取待测器件的测试指标,测试指标包括带内插损指标和带外抑制指标;基于带内插损指标获取通带频段和通带端点频率,基于带外抑制指标获取抑制频段和对应的抑制端点频率;根据通带端点频率对通带频段进行分段,根据抑制端点频率对抑制频段进行分段,得到多个导通子频段和多个抑制子频段;根据通带端点频率在导通子频段设置多个第一测试频点,根据抑制端点频率在抑制子频段设置多个第二测试频点;根据第一测试频点和第二测试频点的采样值对待测器件进行测试。本发明通过优化测试频点分配方式,直接采样频段端点频率,提高SAW滤波器件测试精度,降低边缘失效产品占比。
  • saw滤波器件测试方法装置电子设备
  • [发明专利]一种实体按键触控化的矢量网络分析仪-CN202010542854.8有效
  • 廖轲 - 深圳市极致汇仪科技有限公司
  • 2020-06-15 - 2023-05-09 - G01R27/28
  • 本发明提供一种实体按键触控化的矢量网络分析仪,所述矢量网络分析仪采用全屏化触控屏,所述全屏化触控屏的触控区域独立设置于该全屏化触控屏的右侧,该触控区域的实现通过发送键盘按钮事件触发模拟键盘API函数Keybd_event()来触发键盘值响应事件,或通过服务端、接收端和发送端之间的数据传输实现触控按键的非键盘值响应事件。本发明能够实现矢量网络分析仪的物理按键触控化,通过设置发送按键的虚拟键值就能够满足一个按钮实现多个功能的需求,减少了用户在界面上设计的负担;在此基础上,触控按键面板根据需要可以显示或者隐藏,实现了更加人性化的设计,同时也能够使得相同尺寸的面板更加灵活地适用于不同的需求。
  • 一种实体按键触控化矢量网络分析
  • [发明专利]一种经济型矢量网络分析仪扩展模块及控制方法-CN202111213496.7在审
  • 滑婷婷 - 苏州伏波电子科技有限公司
  • 2021-10-19 - 2023-04-21 - G01R27/28
  • 本发明涉及一种经济型矢量网络分析仪扩展模块及控制方法,包括本振功分和射频,本振功分的第一输出端与第一混频器的第一输入端相连接,射频的输出端与第一单定向耦合器的输入端相连接,第一单定向耦合器的耦合端与第一混频器的第二输入端相连接,第一单定向耦合器的直通端与第一倍频器的输入端相连接,第一倍频器的输出端与第二单定向耦合器的输入端相连接,第二单定向耦合器的耦合端与第二混频器的第一输入端相连接,本振功分的第一输出端与第二倍频器的输入端相连接,第二倍频器的输出端与第二混频器的第二输入端相连接。本发明整体结构简易,使用方便,成本低,可以满足多个使用场景。
  • 一种经济型矢量网络分析扩展模块控制方法
  • [发明专利]一种散射参数模型的获取方法及装置-CN202010604736.5有效
  • 罗兴华;张晓涵;薛俊 - 普联技术有限公司
  • 2020-06-29 - 2023-03-28 - G01R27/28
  • 本申请适用于电路建模和电路检测的技术领域,提供了一种散射参数模型的获取方法及装置,所述方法包括:获取单端口的时域反射曲线,所述单端口为双端口网络传输通道的一端,所述时域反射曲线为所述单端口的阻抗随时间变化的曲线;根据所述时域反射曲线在多个时段的阻抗值,建立双端口散射参数模型,所述双端口散射参数模型包括多段传输线,每段所述传输线用于表示不同时段的特征阻抗值。由于时域反射曲线仅需连接单个端口,即可测得。故本申请根据时域反射曲线在不同时段的阻抗值,建立双端口散射参数模型。进而得到双端口S参数。实现了获取双端口S参数的方法。
  • 一种散射参数模型获取方法装置

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