[实用新型]一种半导体晶圆湿法清洗治具有效
申请号: | 201922402516.X | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN210805720U | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 李阳;陆嘉鑫;王国杰;杨光 | 申请(专利权)人: | 苏州长瑞光电有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/673 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 杨楠 |
地址: | 215024 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 湿法 清洗 | ||
1.一种半导体晶圆湿法清洗治具,其特征在于,该治具包括提把和一组平放花篮;所述提把沿竖直方向均匀设置有一组连接端口;所述平放花篮由圆形底盘和设置在圆形底盘边缘的一圈镂空侧壁组成,圆形底盘上设置有一组通孔,在所述镂空侧壁的外缘设置有至少一个连接端子,所述连接端子与提把上的任一连接端口相配合可使得平放花篮可拆卸地固定于提把上对应于该连接端口的位置。
2.如权利要求1所述半导体晶圆湿法清洗治具,其特征在于,圆形底盘上的所述通孔均匀分布。
3.如权利要求1所述半导体晶圆湿法清洗治具,其特征在于,该治具还包括一组竖直挡板;所述平放花篮的镂空侧壁内缘及相应位置的圆形底盘上设置有一系列用于固定所述竖直挡板的卡槽,竖直挡板与相应的卡槽配合可将平放花篮内的空间划分为不同角度的扇形空间。
4.如权利要求3所述半导体晶圆湿法清洗治具,其特征在于,所述竖直挡板上设置有一组通孔。
5.如权利要求1所述半导体晶圆湿法清洗治具,其特征在于,所述一组平放花篮中包括多个具有不同半径圆形底盘的平放花篮。
6.如权利要求1所述半导体晶圆湿法清洗治具,其特征在于,所述提把的上端带有挂钩。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造