[实用新型]一种新型半导体封装模条定位装置有效
申请号: | 201922384450.6 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN211376613U | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 张晓明 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨海格科技发展有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/56 |
代理公司: | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人: | 高媛 |
地址: | 150000 黑龙江省哈尔滨市平房区迎宾路*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 半导体 封装 定位 装置 | ||
一种新型半导体封装模条定位装置,它涉及半导体器件封装领域,具体涉一种新型半导体封装模条定位装置,它包含:钢片、模腔、第一槽型定位、第二槽型定位,钢片表面均匀设有多个模腔,所述第一槽型定位与第二槽型定位一共有八个(四对)槽型定位,按照中心对称排列,中间两个槽型定位是第一槽型定位,其余六个为第二槽型定位,相邻两槽型定位之间为引线框架,其中第一槽型定位与引线框架卡位是紧配合,第二槽型定位与引线框架卡位是松配合。采用本实用新型有益效果为:在不增加任何成本的情况下,提高了封装质量,延长了模条的使用寿命,同时很大程度上规避了上述隐患和问题。
技术领域
本实用新型涉及半导体器件封装领域,具体涉及一种新型半导体封装模条定位装置。
背景技术
目前半导体器件的封装方法,基本上可以分成两种,即灌封和塑封。由于灌封方式具有操作简单、成本低廉、设备投资小等优点,所以一直被产业界广泛采用。
采用灌封工艺封装,就会用到灌封模条。该模条绝大多数是塑料和钢两种材料制造的,为了保证封装器件各个部位的相对几何位置的准确性,在灌封模条上设置有多个用于定位的定位槽,我们称之为槽型定位,槽的宽度与引线框架的厚度基本相同,起到了确定引线框架插入角度的定位作用,槽的深度确定了引线框架的插入深度。由于灌封工艺需要经过高温,模条和引线框架的制造材料不同,热膨胀系数也不同,且传统模条槽型定位与引线框架卡位之间的配合为紧配合,所以在经过高温后会出现封装位置改变,在一端尺寸偏差积累过多,导致产品外形不一致,产品参数不合格等现象。需要指出的是,光电器件对封装后的各个部位的相对位置有很严格的要求,所以大规模连续生产时,上述槽型定位的设计缺陷会对光电器件产品质量造成重大负面影响。
在传统半导体封装用模条中,八个槽型定位与引线框架卡位都是紧配合,由于金属引线框架和模条本身的膨胀系数不同,导致封装后的半导体产品变形、错位,致使产品出现参数和外形不一致,甚至不合格等现象,加大了物料浪费几率,增加了生产成本,为客户的使用带来风险,同时降低了客户对供应商的信任度,本实用新型半导体封装用模条定位装置,在不增加任何成本的情况下,提高了封装质量,延长了模条的使用寿命,同时很大程度上规避了上述隐患和问题。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足,提供一种新型半导体封装模条定位装置。在不增加任何成本的情况下,提高了封装质量,延长了模条的使用寿命,同时很大程度上规避了上述隐患和问题。
为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案是:它包含钢片1、模腔2、第一槽型定位3、第二槽型定位4,钢片1表面均匀设有多个模腔2,所述第一槽型定位3与第二槽型定位4一共有八个(四对)槽型定位连接在钢片1上,按照中心对称排列,中间两个槽型定位是第一槽型定位3,其余六个为第二槽型定位4,相邻两槽型定位之间为引线框架,使用中根据需要选择合适的配合尺寸和卡位数量,可以实现不同产品、不同高度和不同样式的封装要求,模条对于引线框架的定位是由第一槽型定位3和第二槽型定位4共同完成的,在宽度上第一槽型定位3要比第二槽型定位4要厚,这是为了避免由于引线框架和模条膨胀系数不一致,导致经高温后产品外形超出设计范围、降低产品一致性的现象。
进一步的,所述第一槽型定位3与引线框架卡位在尺寸上是紧配合,第二槽型定位4与引线框架卡位在尺寸上是松配合,第一槽型定位3和第二槽型定位4中部皆设有长方形槽口5在封装时与引线框架卡位配合,起到垂直定位的作用。
进一步的,所述钢片1、模腔2为长方形。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造