[实用新型]一种半导体器件封装装置有效
申请号: | 201920249243.7 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN209626185U | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 翁晓升 | 申请(专利权)人: | 南通捷晶半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/56 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 黄冠华 |
地址: | 226000 江苏省南通*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装基板 下盖板 半导体器件封装 封装胶 上凹槽 上盖板 下凹槽 注塑 芯片 活塞头 预留槽 注塑孔 镶嵌 本实用新型 表面固定 底部表面 顶端设置 内部表面 断裂的 灵活的 拉杆 封装 预留 贯穿 移动 | ||
1.一种半导体器件封装装置,包括上盖板(1)、下盖板(2)、下凹槽(201)、上凹槽(3)、封装基板(4)、芯片(5)和封装胶(6),其特征在于:所述上盖板(1)的下方设置有下盖板(2),且上盖板(1)的下方内部镶嵌有上凹槽(3),并且下盖板(2)的上方内部表面镶嵌有下凹槽(201),所述下凹槽(201)的内部上方设置有封装基板(4),且封装基板(4)的表面固定有芯片(5),所述下盖板(2)的一侧位置安装有注塑孔(7),且注塑孔(7)的底部表面预留有预留槽(9),且预留槽(9)中间贯穿的拉杆(10)的顶端与活塞头(8)相连接,并且活塞头(8)的顶端设置有放置在上凹槽(3)内部的封装胶(6)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件封装装置,其特征在于:所述下凹槽(201)的内部表面等距离的分布有放置板(12),且放置板(12)的底部与支撑杆(13)相连接,并且放置板(12)的最高点与下凹槽(201)的底部表面处于同一直线上。
3.根据权利要求1所述的一种半导体器件封装装置,其特征在于:所述预留槽(9)的内部设置有第二限位块(901),且第二限位块(901)与拉杆(10)外部的第一限位块(1002)之间相互卡合,并且第一限位块(1002)等间距的设置在夹紧杆(11)的外侧。
4.根据权利要求1所述的一种半导体器件封装装置,其特征在于:所述拉杆(10)的内部中间固定安装有中间杆(1001),且中间杆(1001)的外侧通过第一压缩弹簧(1003)与夹紧杆(11)相连接,并且夹紧杆(11)的底部贯穿预留在拉杆(10)下方表面的穿孔(1004)中,同时夹紧杆(11)与拉杆(10)之间的间隙大于零。
5.根据权利要求2所述的一种半导体器件封装装置,其特征在于:所述支撑杆(13)包括上连接杆(1301)、下连接杆(1302)和第二压缩弹簧(1303),上连接杆(1301)的底部通过第二压缩弹簧(1303)与下连接杆(1302)的底部相连接,并且上连接杆(1301)的顶端与放置板(12)的底部为一体结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造