[发明专利]在导电插塞上具有导电顶盖层的半导体元件及其制备方法在审
申请号: | 201911302415.3 | 申请日: | 2019-12-17 |
公开(公告)号: | CN111987071A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 蔡宏奇 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528;H01L23/532;H01L21/768 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电 塞上 具有 盖层 半导体 元件 及其 制备 方法 | ||
1.一种半导体元件,包括:
一半导体基底;
一第一字元线与一第二字元线,配置在该半导体基底上;
一导电插塞,配置在该第一字元线与该第二字元线之间;
一导电顶盖层,配置在该导电插塞上,其中,该导电顶盖层覆盖该导电插塞的一顶表面以及一侧壁表面的一部分;以及
一位元线,配置在该导电顶盖层上,其中,该位元线电性连接该导电插塞。
2.如权利要求1所述的半导体元件,其中,该导电插塞包含铜,且该导电顶盖层包含铜锗合金。
3.如权利要求1所述的半导体元件,其中,该导电插塞的该侧壁表面直接在该第一字元线与该第二字元线上。
4.如权利要求1所述的半导体元件,还包括:
一介电层,配置在该第一字元线与该第二字元线上,其中该导电插塞的该侧壁表面的该部分是从该介电层突伸。
5.如权利要求4所述的半导体元件,其中,该导电顶盖层直接接触该介电层。
6.如权利要求1所述的半导体元件,还包括:
一导电通孔,配置在该位元线与该导电顶盖层之间,其中,该导电顶盖层的一宽度大于该导电通孔的一宽度,且该位元线通过该导电通孔与该导电顶盖层而电性连接该导电插塞。
7.如权利要求1所述的半导体元件,还包括:
一源极/漏极区,配置在该半导体基底中,并位在该第一字元线与该第二字元线之间,其中,该位元线电性连接该源极/漏极区。
8.一种半导体元件,包括:
一半导体基底;
一第一字元线与一第二字元线,配置在该半导体基底上;
一导电插塞,配置在该第一字元线与该第二字元线之间,其中,该导电插塞的一侧壁表面位在该第一字元线与该第二字元线上;
一介电层,覆盖该第一字元线与该第二字元线,其中,该介电层围绕该导电插塞的该侧壁表面的一下部设置;
一导电顶盖层,配置在导电插塞上,其中,该导电顶盖层围绕该导电插塞的该侧壁表面的一上部设置;以及
一位元线,配置在该导电顶盖层上,其中,该位元线电性连接该导电插塞。
9.如权利要求8所述的半导体元件,其中,该导电顶盖层与该介电层完全地覆盖该导电插塞。
10.如权利要求8所述的半导体元件,还包括:
一隔离层,配置在该介电层与该导电顶盖层上,其中,该隔离层的一部分夹置在该导电顶盖层与该介电层之间。
11.如权利要求10所述的半导体元件,还包括:
一导电通孔,配置在该位元线与该导电顶盖层之间,其中,该隔离层在该位元线与该导电顶盖层之间延伸;以及
一源极/漏极区,配置在该半导体基底中,其中,该位元线通过该导电通孔、该导电顶盖层以及该导电插塞而电性连接该源极/漏极区。
12.如权利要求8所述的半导体元件,其中,该导电插塞由铜所制,且该导电顶盖层由铜锗合金所制。
13.如权利要求12所述的半导体元件,其中,该铜锗合金为Cu3Ge。
14.一种半导体元件的制备方法,包括:
在一半导体基底上形成一第一字元线与一第二字元线;
形成一介电层以覆盖该第一字元线与该第二字元线;
在该第一字元线与该第二字元线之间形成一导电插塞,其中,该介电层围绕该导电插塞设置;
移除该介电层的一部分,以部分地暴露该导电插塞的一侧壁表面;
形成一导电顶盖层以覆盖该导电插塞的一顶表面以及该侧壁表面;以及
在该导电插塞上形成一位元线,其中,该位元线通过该导电顶盖层而电性连接该导电插塞。
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