[发明专利]存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法

说明书

本发明公开了一种存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法，设置存储器芯片内置的数据处理电路包括数据图形产生器、并串转换电路以及端口驱动模块。在测试模式下，数据图形产生器自动启动预设测试命令，基于预设测试命令产生测试数据，测试数据通过并串转换电路进行并串转换生成第一数据信号，第一数据信号用于控制端口驱动模块输出第一结果，基于第一结果监测存储器芯片的功耗参数。无需提前写入数据，缩短了测试时间；而且测试采样区间不受数据最大地址上限的限制，降低了测试难度，有利于提高测试精度。

技术领域

本发明涉及存储器芯片技术领域，更具体的说，涉及一种存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法。

背景技术

随着科学技术的不断发展，越来越多的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。存储器芯片是电子设备的一个重要电子元件。存储器芯片需要内置电路用于进行功耗测试。

参考图1和图2所示，图1为现有存储器芯片进行功耗测试时的测试系统电路图，图2为存储器芯片中用于进行功耗测试的内置电路的示意图，对存储器芯片进行功耗测试时，需要通过测试机11对存储器芯片12进行控制和供电，及接收存储器芯片12的输出数据，进行处理判断，以确认其功耗。测试机11可以控制存储器芯片12工作在不同的测试模式，以测量存储器芯片12的平均功耗。其中，测试机11包括：电源模块111，用于为存储器芯片12供电；控制模块112，用于为存储器芯片12进行命令输入；数据处理模块113，用于获取存储器芯片12的数据输出，并进行数据处理，以获取功耗数据。存储器芯片12的功耗测试与数据内容相关，可以利用现有用户命令实现。

现有存储器芯片12中，用于进行功耗测试的内置电路如图2所示，通过其他电路121获取命令输入后，触发逻辑控制器126开启并串转换电路124和端口驱动模块125，并使得存储阵列122中存储数据依次通过灵敏放大电路123、并串转换电路124和端口驱动模块125后，实现数据输出。存储器芯片12中至少具有两种电压域，如内核电压域和数据发送电压域，针对于数据发送电压域的功耗测试原理如图3所示。

参考图3，图3为现有存储器芯片进行功耗测试的方法流程图，依次完成写入命令、写入数据后、读出命令和读出数据后，判断数据是否达到最大地址，如果是，数据输出不再滚动，结束数据读出，如果否，持续读出数据，直到达到最大读出地址后，结束数据读出。

通过上述描述可知，现有的存储器芯片12在进行功耗测试时，操作步骤多，需要按照测试规则先写入数据，增加了测试时间，不便于持续测试，测试过程需要读取存储阵列存储数据，功耗测试需要在达到最大读出地址之前完成，增加了测试难度。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法，方案如下：

一种存储器芯片的数据处理电路，包括：

数据图形产生器、并串转换电路以及端口驱动模块；

在测试模式下，所述数据图形产生器用于自动启动预设测试命令，基于所述预设测试命令产生测试数据，所述测试数据通过所述并串转换电路进行并串转换生成第一数据信号，所述第一数据信号用于控制所述端口驱动模块输出第一结果，基于所述第一结果监测所述存储器芯片的功耗参数。

优选的，在上述数据处理电路中，还包括：灵敏放大电路；

在数据读取模式下，存储阵列中的存储数据依次通过所述灵敏放大电路的放大和所述并串转换电路进行并串转换生成第二数据信号，所述第二数据信号用于控制所述端口驱动模块输出第二结果，所述第二结果用于表征所述存储数据。

优选的，在上述数据处理电路中，所述数据图形产生器以及所述灵敏放大电路通过同一双路选通器与所述并串转换电路连接；