[发明专利]半导体模块有效

专利信息
申请号: 201910777748.5 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110911389B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 平塚大祐;藤原伸人 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 牛玉婷
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 模块
【权利要求书】:

1.一种半导体模块,其中,具备:

第1外部端子;

第2外部端子;

第1半导体开关元件,电连接在上述第1外部端子与上述第2外部端子之间,具有第1栅极电极;

第2半导体开关元件,在上述第1外部端子与上述第2外部端子之间,与上述第1半导体开关元件电气地并联连接,具有第2栅极电极;

第1熔断部,电连接在上述第1外部端子与上述第1半导体开关元件之间;以及

第2熔断部,电连接在上述第2外部端子与上述第1半导体开关元件之间,

在上述第1半导体开关元件与上述第1熔断部之间未设置半导体开关元件,

在上述第1半导体开关元件与上述第2熔断部之间未设置半导体开关元件。

2.如权利要求1所述的半导体模块,其中,

上述第1熔断部包括第1绝缘层和上述第1绝缘层之上的多个第1线状导体,

上述第2熔断部包括第2绝缘层和上述第2绝缘层之上的多个第2线状导体。

3.如权利要求2所述的半导体模块,其中,

上述第1线状导体及上述第2线状导体的长度是1mm以上且10mm以下。

4.如权利要求2或3所述的半导体模块,其中,

上述第1线状导体及上述第2线状导体的厚度是0.1μm以上且1.3μm以下,上述第1线状导体及上述第2线状导体的厚度之差是0.3μm以下。

5.如权利要求2所述的半导体模块,其中,

上述第1线状导体及上述第2线状导体含有铝。

6.如权利要求1所述的半导体模块,其中,还具备:

第3熔断部,电连接在上述第1外部端子与上述第2半导体开关元件之间;以及

第4熔断部,电连接在上述第2外部端子与上述第2半导体开关元件之间。

7.如权利要求1所述的半导体模块,其中,

还具备第3半导体开关元件,该第3半导体开关元件在上述第1外部端子与上述第2外部端子之间,与上述第1半导体开关元件电气地并联连接,具有第3栅极电极,

上述第1熔断部电连接在上述第1外部端子与上述第3半导体开关元件之间,

上述第2熔断部电连接在上述第2外部端子与上述第3半导体开关元件之间。

8.如权利要求1所述的半导体模块,其中,

还具备电连接在上述第1外部端子及上述第2外部端子的某一方与上述第1栅极电极之间的过电压保护元件。

9.如权利要求8所述的半导体模块,其中,

上述过电压保护元件包括第1齐纳二极管。

10.如权利要求9所述的半导体模块,其中,

上述过电压保护元件包括与第1齐纳二极管逆向地串联连接的第2齐纳二极管。

11.如权利要求8所述的半导体模块,其中,

上述过电压保护元件包括变阻器。

12.如权利要求1所述的半导体模块,其中,

还具备将上述第1半导体开关元件、上述第2半导体开关元件、上述第1熔断部及上述第2熔断部覆盖的密封件。

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