[发明专利]一种多重响应波段的半导体探测器有效
| 申请号: | 201910284569.8 | 申请日: | 2019-04-10 |
| 公开(公告)号: | CN109962117B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 郑清团;王星河;叶芳 | 申请(专利权)人: | 临沂市安福电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/101 |
| 代理公司: | 深圳市洪荒之力专利代理有限公司 44541 | 代理人: | 庄露露 |
| 地址: | 276000 山东省临沂市临*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 多重 响应 波段 半导体 探测器 | ||
1.一种多重响应波段的半导体探测器,依次包括衬底、第一导电型氮化物半导体,InxGa1-xN/GaN量子阱,V-pits,第一Au纳米颗粒,Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱,第二Au纳米颗粒,SiC纳米柱核层,(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层,第三Au纳米颗粒,第二导电型Si基板,其特征在于所述InxGa1-xN/GaN量子阱的V-pits上方依次沉积第一Au纳米颗粒,Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱,第二Au纳米颗粒,SiC纳米柱核层,(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层,第三Au纳米颗粒;所述(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层为周期性结构,周期y≥0,z≥0;所述InxGa1-xN/GaN量子阱的In组分为x,其中0≤x≤1。
2.根据权利要求1所述一种多重响应波段的半导体探测器,其特征在于:所述InxGa1-xN/GaN量子阱形成第一探测响应波段,所述第一探测响应波段为420~480nm;所述第一、第二Au纳米颗粒夹着Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱组成Au/Ga2O3/ZnO/Au三明治纳米结构,形成第二探测响应波段,所述第二探测响应波段为520~560 nm;所述第二、第三Au纳米颗粒夹着SiC纳米柱核层/(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层的核壳纳米柱组成Au/SiC-(Ga2O3)y/(GaN)z/Au三明治纳米结构,与第二导电型Si基板组成Au/SiC-(Ga2O3)y/(GaN)z/Au/Si,形成第三响应波段,所述第三响应波段为360~400 nm,从而在将多重响应波段集成在单个探测器的外延结构中。
3.根据权利要求1所述一种多重响应波段的半导体探测器,其特征在于:所述第一Au纳米颗粒/Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱/第二Au纳米颗粒/SiC纳米柱核层/(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层/第三Au纳米颗粒形成复合纳米结构的击穿场强大于8 Mv/cm,该复合纳米结构填充于位错线顶端,提升该多重响应波段的半导体探测器的抗高压能力和ESD能力;所述V-pits的尺寸为50~500 nm,所述第一、第二、第三Au纳米颗粒的尺寸为50~500 nm,所述Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱的尺寸为50~500 nm,所述SiC纳米柱核层的尺寸为50~500 nm,所述(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层的尺寸为50~500 nm。
4.根据权利要求1所述一种多重响应波段的半导体探测器,其特征在于:所述V-pits的深度为D,所述第一Au纳米颗粒/Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱/第二Au纳米颗粒/SiC纳米柱核层/(Ga2O3)y/(GaN)z纳米柱壳层/第三Au纳米颗粒形成复合纳米结构的高度为H,其中H≤D,即复合纳米结构被包覆在V-pits里。
5.根据权利要求1所述一种多重响应波段的半导体探测器,其特征在于:所述第一、第二和第三Au纳米颗粒的形状为球状或半球状或椭球状。
6.根据权利要求1所述一种多重响应波段的半导体探测器,其特征在于:所述Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱的核层为Ga2O3,壳层为ZnO,或者核层为ZnO,壳层为Ga2O3;所述Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱亦可为周期结构,即(Ga2O3/ZnO)m,周期m≥1。
7.根据权利要求1所述一种多重响应波段的半导体探测器,其特征在于:所述Ga2O3/ZnO核壳结构纳米柱的Ga2O3结构包括α-Ga2O3,β-Ga2O3,γ-Ga2O3,δ-Ga2O3的任意一种或任意组合。
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